New scintillation detector of backscattered electrons lor the low voltage SEM
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00088963" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00088963 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
New scintillation detector of backscattered electrons lor the low voltage SEM
Original language description
The new scintillation detector of backscattered electrons that is capable of working at primary beam energy as low as 0.5 keV is introduced. Low energy backscattered electrons are accelerated in order to generate a sufficient number of photons. Secondaryelectrons are deflected back by the energy filter so that the true compositional contrast of the specimen is obtained. The theoretical models of the detector function are described and first demonstration images are presented.
Czech name
Nový scintilační detektor zpětně odražených elektronů pro nízkonapěťovou SEM
Czech description
V článku je představen nový scintilační detektor zpětně odražených elektronů, který je schopen pracovat při nízkých energiích primárního svazku. Nízkoenergiové zpětně odražené elektrony (BSE) jsou urychleny za účelem generování dostatečného množství fotonů ve scintilátoru. Sekundární elektrony jsou filtrovány energiovým filtrem, takže je získáván pravý materiálový kontrast vzorku. Jsou popsány teoretické modely funkce detektoru a prezentovány první demonstrační obrázky.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/KJB200650501" target="_blank" >KJB200650501: Detection of signal electrons in scaning electron microscopy with low primary beam energies</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Journal of Microscopy
ISSN
0022-2720
e-ISSN
—
Volume of the periodical
227
Issue of the periodical within the volume
-
Country of publishing house
GB - UNITED KINGDOM
Number of pages
6
Pages from-to
24-29
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—