All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

New scintillation detector of backscattered electrons lor the low voltage SEM

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00088963" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00088963 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    New scintillation detector of backscattered electrons lor the low voltage SEM

  • Original language description

    The new scintillation detector of backscattered electrons that is capable of working at primary beam energy as low as 0.5 keV is introduced. Low energy backscattered electrons are accelerated in order to generate a sufficient number of photons. Secondaryelectrons are deflected back by the energy filter so that the true compositional contrast of the specimen is obtained. The theoretical models of the detector function are described and first demonstration images are presented.

  • Czech name

    Nový scintilační detektor zpětně odražených elektronů pro nízkonapěťovou SEM

  • Czech description

    V článku je představen nový scintilační detektor zpětně odražených elektronů, který je schopen pracovat při nízkých energiích primárního svazku. Nízkoenergiové zpětně odražené elektrony (BSE) jsou urychleny za účelem generování dostatečného množství fotonů ve scintilátoru. Sekundární elektrony jsou filtrovány energiovým filtrem, takže je získáván pravý materiálový kontrast vzorku. Jsou popsány teoretické modely funkce detektoru a prezentovány první demonstrační obrázky.

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/KJB200650501" target="_blank" >KJB200650501: Detection of signal electrons in scaning electron microscopy with low primary beam energies</a><br>

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2007

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Journal of Microscopy

  • ISSN

    0022-2720

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    227

  • Issue of the periodical within the volume

    -

  • Country of publishing house

    GB - UNITED KINGDOM

  • Number of pages

    6

  • Pages from-to

    24-29

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database