Very Low Energy Scanning Electron Microscopy

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F07%3A00094363" target="_blank" >RIV/68081731:_____/07:00094363 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Very Low Energy Scanning Electron Microscopy
Original language description
The method of very low energy scanning electron microscopy below about 50 eV is treated in full, starting from physics of interaction of very slow electrons with solids, through principle of deceleration of the primary electron beam in the SEM by means of the cathode lens and properties of this assembly, description of contrast mechanisms, up to presentation of results of demonstration experiments performed on families of samples important in various branches of materials science.
Czech name
Rastrovací elektronová mikroskopie na velmi nízkých energiích
Czech description
Metoda rastrovací elektronové mikroskopie na velmi nízkých energiích pod cca 50 eV je souhrnně pojata počínaje fyzikou interakce velmi pomalých elektronů s pevnou látkou, přes princip zpomalení primárního elektronového svazku v SEM pomocí katodové čočkya vlastnosti této kombinace, popis kontrastních mechanismů, až po prezentaci výsledků demonstračních experimentů provedených na třídách vzorků důležitých pro jednotlivé oblasti materiálových věd.

Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)