All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Lie Algebraic method in Charged Particle Optics

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F08%3A00308154" target="_blank" >RIV/68081731:_____/08:00308154 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Lie Algebraic method in Charged Particle Optics

  • Original language description

    Several methods of calculation of aberrations that lead to aberration integrals are used in optics (Trajectory method, Eikonal method, and Lie algebraic method). The main approaches of these methods are shown with the accent given to the Lie algebraic method. The symplectic classification of aberrations and the calculation of the fifth order aberrations of round magnetic lens using Lie algebra method are also presented.

  • Czech name

    Metody Lieových algeber v optice nabitých částic

  • Czech description

    Pro výpočet aberací se používá několik ekvivalentních metod, které vedou k výpočtu aberačních integrálů (metody trajektorií, eikonálové metody a metody Lieových algeber). V práci jsou shrnuté základní postupy jednotlivých metod, přičemž hlavní důraz je kladen na metodu Lieových algeber, jejích postupů je pak použito při popisu symplektické klasifikace aberací a výpočtu aberací pátého řádu magnetické čočky.

Classification

  • Type

    C - Chapter in a specialist book

  • CEP classification

    JA - Electronics and optoelectronics

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2008

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Book/collection name

    Advances in Imaging and Electron Physics, Vol. 151

  • ISBN

    978-0-12-374218-6

  • Number of pages of the result

    122

  • Pages from-to

    241-362

  • Number of pages of the book

  • Publisher name

    Academic Press - Elsevier

  • Place of publication

    San Diego

  • UT code for WoS chapter