Lie Algebraic method in Charged Particle Optics
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F08%3A00308154" target="_blank" >RIV/68081731:_____/08:00308154 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Lie Algebraic method in Charged Particle Optics
Original language description
Several methods of calculation of aberrations that lead to aberration integrals are used in optics (Trajectory method, Eikonal method, and Lie algebraic method). The main approaches of these methods are shown with the accent given to the Lie algebraic method. The symplectic classification of aberrations and the calculation of the fifth order aberrations of round magnetic lens using Lie algebra method are also presented.
Czech name
Metody Lieových algeber v optice nabitých částic
Czech description
Pro výpočet aberací se používá několik ekvivalentních metod, které vedou k výpočtu aberačních integrálů (metody trajektorií, eikonálové metody a metody Lieových algeber). V práci jsou shrnuté základní postupy jednotlivých metod, přičemž hlavní důraz je kladen na metodu Lieových algeber, jejích postupů je pak použito při popisu symplektické klasifikace aberací a výpočtu aberací pátého řádu magnetické čočky.
Classification
Type
C - Chapter in a specialist book
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Book/collection name
Advances in Imaging and Electron Physics, Vol. 151
ISBN
978-0-12-374218-6
Number of pages of the result
122
Pages from-to
241-362
Number of pages of the book
—
Publisher name
Academic Press - Elsevier
Place of publication
San Diego
UT code for WoS chapter
—