Solving Complex Electron Optical Problems with EOD

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F08%3A00315455" target="_blank" >RIV/68081731:_____/08:00315455 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Solving Complex Electron Optical Problems with EOD
Original language description
The paper summarizes the possibilities of accurate computation of potential with the first order finite element method and highly accurate ray tracing in numerically computed fields, which were implemented in the EOD program. The use of the program is illustrated on the results of computation of third order aberration coefficients of an electrostatic mirror and by the computation of correctors of axial aberrations of electron microscopes.
Czech name
Řešení složitých elektronově optických problémů v EOD
Czech description
Příspěvek provádí shrnutí možností přesného výpočtu potenciálu metodou konečných prvků prvního řádu a vysoce přesného trasování částic v numericky spočtených polích, jak bylo implementováno v programu EOD. Použití programu je ilustrováno na výsledcích výpočtu koeficientů vad třetího řádu elektrostatického elektronového zrcadla z výsledků trasování a výpočty korektorů osových vad elektronových mikroskopů.

Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings of the 11th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation
ISBN
978-80-254-0905-3
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
4
Pages from-to
—
Publisher name
Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i
Place of publication
Brno
Event location
Skalský dvůr
Event date
Jul 14, 2008
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)