SMV-2012-19: Topography of thin polymer films
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00426282" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00426282 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev
Original language description
Měření topografie a vyhodnocení vlastností tenkých polymerních vrstev, které byly naneseny na křemíkové a křemenné substráty. Měření byla provedena mikroskopem atomárních sil v kontaktním režimu. Ze získáných dat byla vyhodnocena drsnost jednotlivých vzorků. Současně byla také provedena analýza jednotlivých fází polymerů ve vrstvách s pomocí měření laterálních sil.
Czech name
SMV-2012-19: Topografie povrchů tenkých polymerních vrstev
Czech description
Měření topografie a vyhodnocení vlastností tenkých polymerních vrstev, které byly naneseny na křemíkové a křemenné substráty. Měření byla provedena mikroskopem atomárních sil v kontaktním režimu. Ze získáných dat byla vyhodnocena drsnost jednotlivých vzorků. Současně byla také provedena analýza jednotlivých fází polymerů ve vrstvách s pomocí měření laterálních sil.
Classification
Type
V<sub>souhrn</sub> - Summary research report
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
N - Vyzkumna aktivita podporovana z neverejnych zdroju
Others
Publication year
2012
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Number of pages
4
Place of publication
Brno
Publisher/client name
—
Version
—