Interferometric assembly for differential measurement of distance
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00473642" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00473642 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/68081731:_____/14:00500966
Result on the web
<a href="http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/304/304317.pdf" target="_blank" >http://spisy.upv.cz/Patents/FullDocuments/304/304317.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Interferometrická sestava pro diferenční měření vzdálenosti
Original language description
Motivace k patentu vychází ze zaměření našeho projektu na interferometrické systémy pro měření polohy, přičemž cílem aplikací je souřadnicové odměřování. V metrologii a nanometrologii je souřadnicové odměřování kombinováno s požadavkem na maximální dosažitelnou přesnost. V souřadnicovém odměřování má diferenční měření svoji roli, právě jako jedna z cest k nejvyšší přesnosti. Předmětem patentu je optická konfigurace interferometrického systému pro měření délky v jedné optické ose, přičemž poloha je odměřována v diferenciálním uspořádání. Jde tedy o měření vůči referenční ploše, rovnoběžné s měřicí plochou. Interferometr je koncipován jako dvousvazkov,ý s kompenzací malých úhlových chyb prostřednictvím koutových odražečů v měřicím i referenčním svazku. Výhodou je společná měřicí osa jak referenčních, tak měřicích svazků, což napomáhá dodržení tzv. Abbého principu při souřadnicovém odměřování. Interferometr je kompaktní konfigurace, bez externího děliče svazku a umožňuje realizaci technologií spojování na optický kontakt.
Czech name
Interferometrická sestava pro diferenční měření vzdálenosti
Czech description
Motivace k patentu vychází ze zaměření našeho projektu na interferometrické systémy pro měření polohy, přičemž cílem aplikací je souřadnicové odměřování. V metrologii a nanometrologii je souřadnicové odměřování kombinováno s požadavkem na maximální dosažitelnou přesnost. V souřadnicovém odměřování má diferenční měření svoji roli, právě jako jedna z cest k nejvyšší přesnosti. Předmětem patentu je optická konfigurace interferometrického systému pro měření délky v jedné optické ose, přičemž poloha je odměřována v diferenciálním uspořádání. Jde tedy o měření vůči referenční ploše, rovnoběžné s měřicí plochou. Interferometr je koncipován jako dvousvazkov,ý s kompenzací malých úhlových chyb prostřednictvím koutových odražečů v měřicím i referenčním svazku. Výhodou je společná měřicí osa jak referenčních, tak měřicích svazků, což napomáhá dodržení tzv. Abbého principu při souřadnicovém odměřování. Interferometr je kompaktní konfigurace, bez externího děliče svazku a umožňuje realizaci technologií spojování na optický kontakt.
Classification
Type
P - Patent
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TA02010711" target="_blank" >TA02010711: Advanced interferometric systems for measurement in nanotechnology</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2014
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Patent/design ID
304317
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
Jan 15, 2014
Owner name
Ústav přístrojové techniky Akademie věd ČR, v. v. i.
Method of use
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence