Sample holder with electrical contact
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F19%3A00518094" target="_blank" >RIV/68081731:_____/19:00518094 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm" target="_blank" >https://isdv.upv.cz/webapp/!resdb.pta.frm</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Držák vzorků s elektrickým kontaktováním
Original language description
Držák vzorku byl navržen pro ultravakuový skenovací elektronový a sondový mikroskop (UHV SEM/SPM), který slouží pro přípravu a charakterizaci vzorků nanostruktur v širokém rozsahu pracovních teplot 20 K až 700 K. Držák je vybaven deseti odpruženými elektrickými kontakty pro elektrické spojení transportní paletky s držákem, přičemž paletka může být osazena nejen vzorkem, ale také teplotním snímačem a odporovým topným elementem. Dvě čtveřice kontaktů jsou vyhrazeny pro vzorek a teplotní snímač, zbývající dvojice pro topný element. Při nízkoteplotních testech držáku ve zkušební vakuové komoře s průtokovým systémem chlazení, byla dosažena mezní teplota držáku 24 K při teplotě okolí 300 K. Funkce kontaktů byla úspěšně ověřena měřením přechodového elektrického odporu na spoji pevné a odpružené části kontaktů v celém rozsahu pracovních teplot. Z provedené rešeršní studie komerčně dostupných držáků vzorku vyplývá, že držáky pro uvažované použití nejsou na trhu dostupné.
Czech name
Držák vzorků s elektrickým kontaktováním
Czech description
Držák vzorku byl navržen pro ultravakuový skenovací elektronový a sondový mikroskop (UHV SEM/SPM), který slouží pro přípravu a charakterizaci vzorků nanostruktur v širokém rozsahu pracovních teplot 20 K až 700 K. Držák je vybaven deseti odpruženými elektrickými kontakty pro elektrické spojení transportní paletky s držákem, přičemž paletka může být osazena nejen vzorkem, ale také teplotním snímačem a odporovým topným elementem. Dvě čtveřice kontaktů jsou vyhrazeny pro vzorek a teplotní snímač, zbývající dvojice pro topný element. Při nízkoteplotních testech držáku ve zkušební vakuové komoře s průtokovým systémem chlazení, byla dosažena mezní teplota držáku 24 K při teplotě okolí 300 K. Funkce kontaktů byla úspěšně ověřena měřením přechodového elektrického odporu na spoji pevné a odpružené části kontaktů v celém rozsahu pracovních teplot. Z provedené rešeršní studie komerčně dostupných držáků vzorku vyplývá, že držáky pro uvažované použití nejsou na trhu dostupné.
Classification
Type
F<sub>uzit</sub> - Utility model
CEP classification
—
OECD FORD branch
20301 - Mechanical engineering
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TE01020233" target="_blank" >TE01020233: Advanced Microscopy and Spectroscopy Platform for Research and Development in Nano and Microtechnologies - AMISPEC</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2019
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Patent/design ID
33444
Publisher
CZ001 -
Publisher name
Industrial Property Office
Place of publication
Prague
Publication country
CZ - CZECH REPUBLIC
Date of acceptance
—
Owner name
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Method of use
A - Výsledek využívá pouze poskytovatel
Usage type
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence