Contribution of modern scanning electron microscopy for the study of steels
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F20%3A00535190" target="_blank" >RIV/68081731:_____/20:00535190 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2020/2020-06/jmo_20_06_obsah.pdf" target="_blank" >https://jmo.fzu.cz/sites/jmo.fzu.cz/files/oldweb/2020/2020-06/jmo_20_06_obsah.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Přínos moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí
Original language description
Moderní rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) jsou vybaveny velmi sofistikovaným detekčním systémem, což uožňuje pozorovat povrch vzorků při různých energiích dopadu primárních elektronů. Signální elektrony jsou velice efektivně filtrovány základě jejich emisního úhlu a energie, se kterou byly emitovány ze vzorku. Filtrace signálních elektronů umožňuje optimalizovat zobrazovací podmínky v mikroskopu a získat požadovanou informaci o vzorku. Současné SEM instrumenty je možno operovat na široké škále urychlovacích napětí, a to od 30 keV až do jednotek elektronvoltů. Kombinace těchto dvou faktorů, t.j. sofistikované detekční strategie a možnosti používání extrémně nízkých dopadových energií primárního svazku, vede k možnosti zisku nových kontrastů a preciznější charakterizaci struktury ocelí. Cílem této studie je demonstrovat výhody moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí. Budou prezentovány konkrétní aplikace, jako je zobrazení jednotlivých fází ve vysokopevnostních ocelích, zobrazování jemných Mn oxidů na povrchu oceli, mapování Lavesovy fáze v COST F oceli, studium povrchových vrstev a další.n n
Czech name
Přínos moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí
Czech description
Moderní rastrovací elektronové mikroskopy (SEM) jsou vybaveny velmi sofistikovaným detekčním systémem, což uožňuje pozorovat povrch vzorků při různých energiích dopadu primárních elektronů. Signální elektrony jsou velice efektivně filtrovány základě jejich emisního úhlu a energie, se kterou byly emitovány ze vzorku. Filtrace signálních elektronů umožňuje optimalizovat zobrazovací podmínky v mikroskopu a získat požadovanou informaci o vzorku. Současné SEM instrumenty je možno operovat na široké škále urychlovacích napětí, a to od 30 keV až do jednotek elektronvoltů. Kombinace těchto dvou faktorů, t.j. sofistikované detekční strategie a možnosti používání extrémně nízkých dopadových energií primárního svazku, vede k možnosti zisku nových kontrastů a preciznější charakterizaci struktury ocelí. Cílem této studie je demonstrovat výhody moderní rastrovací elektronové mikroskopie pro studium ocelí. Budou prezentovány konkrétní aplikace, jako je zobrazení jednotlivých fází ve vysokopevnostních ocelích, zobrazování jemných Mn oxidů na povrchu oceli, mapování Lavesovy fáze v COST F oceli, studium povrchových vrstev a další.n n
Classification
Type
J<sub>ost</sub> - Miscellaneous article in a specialist periodical
CEP classification
—
OECD FORD branch
20501 - Materials engineering
Result continuities
Project
<a href="/en/project/TN01000008" target="_blank" >TN01000008: Center of electron and photonic optics</a><br>
Continuities
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Others
Publication year
2020
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Volume of the periodical
65
Issue of the periodical within the volume
6
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
4
Pages from-to
171-174
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—