Self-polarized PZT thin films:deposition, characterization and application

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F04%3A00100483" target="_blank" >RIV/68378271:_____/04:00100483 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Self-polarized PZT thin films:deposition, characterization and application
Original language description
The aim of this work is the characterization of self-polarized PZT thin films. The laser-intensity-modulation method (LIMM) was applied for the investigation of the polarization profile. Measurement unsertainties and resolution of this measurement technique are discussed. The application of self-polarized IR sensor arrays in presence detection and IR imaging is demonstrated
Czech name
Samopolarizované tenké vrstvy PZT : depozice, charakterizace, aplikace
Czech description
Cílem práce je především charakterizace připravovaných samopolarizovaných PZT vrstev. Pro určování polarizačního profilu vrstev byla využita metoda LIMM (Metoda modulace intenzity záření laseru ).Dále byla diskutována přesnost a rozlišovací schopnost uvedené metody. Byly ukázány aplikační možnosti samopolarizovaných PZT vrstev v IČ senzorových polích a v detektorech pro kontrolu prostorů

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/GP202%2F02%2FD078" target="_blank" >GP202/02/D078: Spectroscopy and new effects in self-polarized perovskite-like ferroelectrics</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)