Kelvin force microscopy on diamond surfaces and devices
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F05%3A00028555" target="_blank" >RIV/68378271:_____/05:00028555 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Kelvin force microscopy on diamond surfaces and devices
Original language description
The results, resolution and accuracy of Kelvin force microscopy (KFM) on highly conductive (hydrogenated) and highly resistive (oxidized) diamond surfaces are discussed in detail
Czech name
Mikroskopie Kelvinovy síly na diamantových površích
Czech description
V článku jsou detailně rozebrány výsledky, rozlišení a přesnost měření mikroskopie kelvinovy síly (KFM) na vysoce vodivých (hydrogenovaných) a málo vodivých(zoxidovaných) diamantových površích
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Diamond and Related Materials
ISSN
0925-9635
e-ISSN
—
Volume of the periodical
14
Issue of the periodical within the volume
-
Country of publishing house
CH - SWITZERLAND
Number of pages
4
Pages from-to
466-469
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—