Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F06%3A00079494" target="_blank" >RIV/68378271:_____/06:00079494 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/61989592:15310/06:00003274
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Roughness measurement of silicon ingot surfaces after squaring with SQM 2800.0 THEMIS machine
Original language description
Surface topography has great importance in specifying quality of a surface. A significant proportion of component failure starts at the surface due to either an isolated manufacturing discontinuity or gradual deterioration of the surface quality. The most important parameter describing surface integrity is surface roughness. In the manufacturing industry, surface must be within certain limits of roughness.
Czech name
Měření drsnosti povrchu křemíkových ingotů po squarování
Czech description
Topografie povrchu má velký vliv na specifikaci jeho kvality. Jedna z podstatných vlastností popisujících povrch je drsnost povrchu. Kontrola parametrů drsnosti po squarování Si ingotů je hlavním předmětem příspěvku.

Project
<a href="/en/project/1M06002" target="_blank" >1M06002: Optical structures, detection systems and relevant technologies for low photon number applications</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2006
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)