Applications of intense ultra-short XUV pulses to solid state physics: time-resolved luminescence spectroscopy and radiation damage studies
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F07%3A00086338" target="_blank" >RIV/68378271:_____/07:00086338 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/61388955:_____/07:00086338
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Applications of intense ultra-short XUV pulses to solid state physics: time-resolved luminescence spectroscopy and radiation damage studies
Original language description
High-surface-quality amorphous carbon (a-C) optical coatings with a thickness of 45 nm, deposited by magnetron sputtering on a silicon substrate were irradiated by the focused beam of capillary-discharge Ne-like Ar XUV laser (CDL). Investigating consequences of the multiple-shot exposure it has been found that an accumulation of 10, 20 and 40 shots at a fluence of 0.5 J/cm2, i.e., below the single-shot damage threshold, causes irreversible changes of a-C thin layer which can be registered by both the AFM and the DIC microscopy
Czech name
Využití intenzivních ultra-krátkých pulzů ve fyzice pevných látek: časově-rozlišená luminescenční spektroskopie a výzkum radiačního poškození
Czech description
Amorfní uhlíková (a-C) optická pokrytí vysoké kvality tloušťky 45 nm deponovaná magnetronovým naprašováním na křemíkových substrátech byla ozářena fokusovaným svazkem kapilárním výbojovým XUV laserem. Zjistili jsme, že expozice 10, 20 a 40 pulzy vedla kpoškození povrchu při fluenci 0.5 J/cm2, tedy bezpečně pod prahem poškození jedním impulzem
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics
ISBN
978-0-8194-6714-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
10
Pages from-to
1-10
Publisher name
SPIE
Place of publication
Bellingham
Event location
Prague
Event date
Apr 18, 2007
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—