A simple tool for quality evaluation of the microcrystalline silicon prepared at high growth rate

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00309807" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00309807 - isvavai.cz</a>

Alternative codes found

RIV/68378271:_____/08:00341937

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

A simple tool for quality evaluation of the microcrystalline silicon prepared at high growth rate

Original language description

We suggest a simple "?c-Si:H layer quality factor" based on the ration of subgap optical absorption ? (1,4 eV)/ ?(1 eV) measured by constant photocurrent method.

Czech name

Jednoduchý nástroj pro určení kvality mikrokrystalického křemíku připraveného s vysokou rychlostí růstu

Czech description

Navrhli jsme jednoduchý "?c-Si:H layer quality factor" založený na poměru podgapovské optické absorpce ? (1,4 eV)/ ? (1 eV), měřený metodou konstantního fotoproudu.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

—

Volume of the periodical

516

Issue of the periodical within the volume

15

Country of publishing house

CH - SWITZERLAND

Number of pages

4

Pages from-to

—

UT code for WoS article

000256509100048

EID of the result in the Scopus database

—