Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00312418" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00312418 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/00216224:14310/08:00028408 RIV/00177016:_____/08:#0000301
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Photoelectron spectroscopy from randomly corrugated surfaces
Original language description
The influence of random surface roughness on photoelectron intensities has been investigated by angular-resolved photoelectron spectroscopy an advenced calculations.
Czech name
Fotoelektronová spektroskopie náhodně drsných povrchů
Czech description
Vliv náhodné povrchové drsnosti na intenzitu fotoelektronových línií je studován úhhově rozlišenou fotoemisí a pokročilými výpočty.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA202%2F06%2F0459" target="_blank" >GA202/06/0459: Electron interactions at unordered solid surfaces</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Surface Science
ISSN
0039-6028
e-ISSN
—
Volume of the periodical
602
Issue of the periodical within the volume
7
Country of publishing house
NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS
Number of pages
7
Pages from-to
—
UT code for WoS article
000255302600020
EID of the result in the Scopus database
—