Aberration Analysis of Elements in Optical Measurement Systems
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21110%2F04%3A01099271" target="_blank" >RIV/68407700:21110/04:01099271 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Aberration Analysis of Elements in Optical Measurement Systems
Original language description
The work is focused on a theoretical analysis of aberrations of various elements in optical measurement systems in industrial practice. It is analysed an influence of the change of imaging conditions on the accuracy of various optical and optoelectronicmeasurement systems, which are used in various industrial branches, e.g. in mechanical engineering, optical industry, building industry, etc
Czech name
Analýza aberací v optických měřících systémech
Czech description
V práci jsou popsány výsledky získané při analýze aberací v různých optických měřících systémech
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/GA103%2F02%2F0357" target="_blank" >GA103/02/0357: Modern optoelectronic methods of measuring surfaces´topography</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
Proceedings of Workshop 2004
ISBN
80-01-02945-X
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
112-113
Publisher name
ČVUT
Place of publication
Praha
Event location
Praha
Event date
Mar 22, 2004
Type of event by nationality
EUR - Evropská akce
UT code for WoS article
—