Innovations in Materials Science through Electron & Ion Microscopy

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21110%2F23%3A00370314" target="_blank" >RIV/68407700:21110/23:00370314 - isvavai.cz</a>

Result on the web

<a href="https://info.tescan.com/cvut" target="_blank" >https://info.tescan.com/cvut</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Posílení inovací v materiálových vědách pomocí řešení elektronové a iontové mikroskopie

Original language description

V rámci konference byly předneseny příspěvky na téma rozvoje poznání v oblasti charakterizace materiálů prostřednictvím technologií elektronové a iontové mikroskopie. Součástí byly informace o nejnovějších trendech a inovacích v oblasti materiálových věd, zejména využití elektronové mikroskopie pro analýzu stavebních materiálů, využití systému FIB-SEM v kombinaci s technikami EDS, WDS a EBSD a mnoha dalších. Účast na konferenci byla zdarma, náklady konference sdílely společnosti Tescan a FSv, CVUT. Program konference: - Úvod do semináře, Michal Klášterecký, Tescan & Jiří Němeček, CVUT - Možnosti a výhledy využití elektronové mikroskopie pro analýzu stavebních materiálů, Martin Böhm, FSv CVUT - Využití systému FIB-SEM/EDS+WDS+EBSD pro podporu bezpečného provozu jaderných elektráren, Jan Bajer, ÚJV Řež - Posílení inovací v materiálových vědách pomocí sem, FIB-SEM, Micro-CT a 100 keV 4D STEM řešení, Petr Klímek, Tescan - Multimodální charakterizace materiálů a příprava vzorků pomocí iontové a elektronové mikroskopie: FIB-SEM a jeho přínos pro materiálové vědy, Martin Sláma, Tescan - FIB-SEM technologie a jejich využití pro studium a charakterizací materiálů a získání dat v krátkém čase pomocí optimalizovaných řešení, Martin Sláma, Tescan - Frekvenčně závislé únavové poškození polykrystalické mědi analyzované pomocí FIB tomografie, Ivo Kuběna, ÚFM AV ČR - Nanomanipulace na mikroškále pomocí p-FIB, Jaromír Kopeček, FZU AV ČR - Korelativní přístup charakterizace materiálů pro studium materiálů ve 2D a 3D v měřítku od centimetrů po nanometry, Martin Sláma, Tescan - Aplikační využití FIB v Centru výzkumu Řež, Jan Lorinčík, CVŘ

Czech name

Posílení inovací v materiálových vědách pomocí řešení elektronové a iontové mikroskopie

Czech description

V rámci konference byly předneseny příspěvky na téma rozvoje poznání v oblasti charakterizace materiálů prostřednictvím technologií elektronové a iontové mikroskopie. Součástí byly informace o nejnovějších trendech a inovacích v oblasti materiálových věd, zejména využití elektronové mikroskopie pro analýzu stavebních materiálů, využití systému FIB-SEM v kombinaci s technikami EDS, WDS a EBSD a mnoha dalších. Účast na konferenci byla zdarma, náklady konference sdílely společnosti Tescan a FSv, CVUT. Program konference: - Úvod do semináře, Michal Klášterecký, Tescan & Jiří Němeček, CVUT - Možnosti a výhledy využití elektronové mikroskopie pro analýzu stavebních materiálů, Martin Böhm, FSv CVUT - Využití systému FIB-SEM/EDS+WDS+EBSD pro podporu bezpečného provozu jaderných elektráren, Jan Bajer, ÚJV Řež - Posílení inovací v materiálových vědách pomocí sem, FIB-SEM, Micro-CT a 100 keV 4D STEM řešení, Petr Klímek, Tescan - Multimodální charakterizace materiálů a příprava vzorků pomocí iontové a elektronové mikroskopie: FIB-SEM a jeho přínos pro materiálové vědy, Martin Sláma, Tescan - FIB-SEM technologie a jejich využití pro studium a charakterizací materiálů a získání dat v krátkém čase pomocí optimalizovaných řešení, Martin Sláma, Tescan - Frekvenčně závislé únavové poškození polykrystalické mědi analyzované pomocí FIB tomografie, Ivo Kuběna, ÚFM AV ČR - Nanomanipulace na mikroškále pomocí p-FIB, Jaromír Kopeček, FZU AV ČR - Korelativní přístup charakterizace materiálů pro studium materiálů ve 2D a 3D v měřítku od centimetrů po nanometry, Martin Sláma, Tescan - Aplikační využití FIB v Centru výzkumu Řež, Jan Lorinčík, CVŘ

Type

O - Miscellaneous

CEP classification

—

OECD FORD branch

20501 - Materials engineering

Project

—

Continuities

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Publication year

2023

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů