Possibility of Nano-Layers Utilization in Metrology

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F07%3A00142139" target="_blank" >RIV/68407700:21220/07:00142139 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
čeština
Original language name
Možnost využití nanovrstev v metrologii
Original language description
Nanotechnologie pronikají již do všech oblastí průmyslového světa, výjimkou není ani strojírenství. Vzniká však otázka, jak tyto nanotechnologie prakticky využít, a zda vůbec budou tyto nanorozměry měřitelné. Pozornost si zasluhuje i změna fyzikálních vlastností povrchu, na kterém jsou nanovrstvy. Nanovrstva na povrchu umožňuje, při vzájemném kontaktu dvou povrchů, snížit činitel tření. Tohoto se dá s úspěchem využít v metrologii. Ocelové dotyky měřidel, např. číselníkového úchylkoměru, které budou opatřené nanovrstvou, sníží nejistotu měření.
Czech name
Možnost využití nanovrstev v metrologii
Czech description
Nanotechnologie pronikají již do všech oblastí průmyslového světa, výjimkou není ani strojírenství. Vzniká však otázka, jak tyto nanotechnologie prakticky využít, a zda vůbec budou tyto nanorozměry měřitelné. Pozornost si zasluhuje i změna fyzikálních vlastností povrchu, na kterém jsou nanovrstvy. Nanovrstva na povrchu umožňuje, při vzájemném kontaktu dvou povrchů, snížit činitel tření. Tohoto se dá s úspěchem využít v metrologii. Ocelové dotyky měřidel, např. číselníkového úchylkoměru, které budou opatřené nanovrstvou, sníží nejistotu měření.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JR - Other machinery industry
OECD FORD branch
—

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)