Nano-Layers in Metrology

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F08%3A02142146" target="_blank" >RIV/68407700:21220/08:02142146 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Nano-Layers in Metrology
Original language description
Now, verification of surface structure was carried out experimentally only: application nano-layer on surface of the steel stylus of the dial gauge. The principle of verification was based on a hypothetical premise of measurement of a friction coefficient. The experiment showed nano-layer has high influence for a friction coefficient, in a positive purpose. Uncertainty of measurement is decrease. The experiment acknowledges thesis, application of nano-layer on stylus of measuring tool eminently decreases a scatter of measurement, which is characterized by parameter of variability - by standard deviation.
Czech name
Nanovrstvy v metrologii
Czech description
Nanotechnologie pronikají již do všech oblastí průmyslového světa, výjimkou není ani strojírenství. Vzniká však otázka, jak tyto nanotechnologie prakticky využít, a zda vůbec budou tyto nanorozměry měřitelné. Pozornost si zasluhuje i změna fyzikálních vlastností povrchu, na kterém jsou nanovrstvy. Nanovrstva na povrchu umožňuje, při vzájemném kontaktu dvou povrchů, snížit činitel tření. Tohoto se dá s úspěchem využít v metrologii. Ocelové dotyky měřidel, např. číselníkového úchylkoměru, které budou opatřené nanovrstvou, sníží nejistotu měření.

Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)