All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Measurements of x-ray laser wavefront profile using PDI technique

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F07%3A02133406" target="_blank" >RIV/68407700:21220/07:02133406 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Measurements of x-ray laser wavefront profile using PDI technique

  • Original language description

    The point diffraction interferometer (PDI) is a simple self-referencing interferometer, designed here to measure the wavefront profile of a soft X-ray laser emitting at the wavelength of 21.2 nm. It is a monolithic device consisting of a thin filter anda very small pinhole (~1 um), located near the axis of the X-ray laser focal spot. The foil material around the hole is semitransparent for the X-ray radiation of interest, acting like a neutral density filter. The small pinhole is a diffraction apertureand plays a spatial filtering role, generating spherical wave that acts a reference. The interferometric pattern is produced on a detector placed a few centimeters behind the foil. The beam wavefront profile is reconstructed from the information encodedin the pattern. In this paper we discuss the overall design of the PDI wavefront sensor setup, namely its geometry, fringe contrast, level of the detected signal, size of the pinhole, and candidate materials for the PDI foil.

  • Czech name

    Měření profilu vlnoplochy X laseru pomocí PDI techniky

  • Czech description

    Bodový difrakční interferometr je jednoduchý samokalibrující interferometr navrženy v tomto článku pro měření profilu záření měkkého X laseru vyzařujícího na vlnové délce 21,2 nm. Jedná se o monolitické zařízení skládající se z tenkého filtru a malé apertury (~1 um) umístěné v blízkosti osy ohniska x laseru. Materiál okolo apertury je částečně propustný pro záření x a slouží jako neutrální hustotní filtr. malá apertura pak funguje jako prostorový filt generující referenční kulovou vlnoplochu. Profil vlnoplochy je pak rekonstruován z difrakčního obrazce snímané detektorem několik centimetrů za fólií.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

    BH - Optics, masers and lasers

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Others

  • Publication year

    2007

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Proceedings of SPIE -- Volume 6702 Soft X-Ray Lasers and Applications VII

  • ISBN

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

  • Number of pages

    8

  • Pages from-to

  • Publisher name

    SPIE Europe

  • Place of publication

    Warsaw

  • Event location

    Praha

  • Event date

    Apr 16, 2007

  • Type of event by nationality

    EUR - Evropská akce

  • UT code for WoS article