Comparison of Virtual Testing Environments for Extracting A/D Converter Non-linearity

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F07%3A03137995" target="_blank" >RIV/68407700:21230/07:03137995 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Comparison of Virtual Testing Environments for Extracting A/D Converter Non-linearity
Original language description
This paper deals with the performance aspects of Virtual Testing Environment (VTE) built for A/D converter performance extraction. Here, the term "virtual" implies the fact that the ADC testing is done yet in the circuit design to identify and possibly optimize the major error sources at transistor-level.
Czech name
Porovnání virtuálních testovacích rozhraní pro extrakci nelinearit A/D převodníků
Czech description
Příspěvek se zabývá výkonnostními aspekty virtuálního testovacího rozhraní (VTE) vytvořeného k extrakci parametrů A/D převodníků.Termín "virtuální" koresponduje s faktem,že ADC testování je provedeno již na obvodové úrovni z důvodu identifikace a možné optimalizace chybových zdrojů v plně tranzistorovém návrhu.

Project
<a href="/en/project/GA102%2F07%2F1186" target="_blank" >GA102/07/1186: Sophisticated methods of the analog and mixed-signal circuits design in sub-micron technologies</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2007
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)