Non-contact non-resonant scanning probe microscopy - SPM measurements

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F22%3A00363160" target="_blank" >RIV/68407700:21230/22:00363160 - isvavai.cz</a>

Result on the web

<a href="https://docs.google.com/document/d/1-H8EcHvUaIOAEioiF4Onh532Gd_fBZYx/edit?usp=sharing&ouid=111781647380929334922&rtpof=true&sd=true" target="_blank" >https://docs.google.com/document/d/1-H8EcHvUaIOAEioiF4Onh532Gd_fBZYx/edit?usp=sharing&ouid=111781647380929334922&rtpof=true&sd=true</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Nekontaktní nerezonantní mikroskopie skenovací sondou - SPM měření

Original language description

Výsledkem spolupráce s firmou Bruker, FZÚ AVČR a UOCHB AVČR byla získána data pomocí měření topografie různých vzorků pomocí negativního setpointu a kladné/záporné zpětné vazby na přístroji Dimension ICON AFM. Tato data jsou shrnuta v publikaci „Non-contact non-resonant atomic force microscopy method for measurements of highly mobile molecules and nanoparticles“ podané do časopisu Ultramicroscopy. Mikroskopie atomárních sil (AFM) je v dnešní době nepostradatelnou všestrannou skenovací sondovou metodou široce využívanou pro základní i aplikovaný výzkum ve fyzice, chemii, biologii i průmyslové metrologii. Zde ukazujeme, jak lze přitažlivé síly v AFM za běžných podmínek s výhodou využít k velmi citlivému zkoumání povrchových vlastností i na vysoce mobilních molekulách a nanočásticích. Představujeme stabilní nekontaktní nerezonantní mikroskopie skenovací sondou metodu(NCNR AFM), která umožňuje spolehlivě provádět měření v režimu přitažlivé síly i na vzduchu ovládáním polohy hrotu v blízkosti vzorku bez přímého dotyku. Demonstrujeme proof-of-concept výsledky měření pomocí sinusových oscilací s negativní nastavenou hodnotou setpointu na makrocyklech na bázi helicenu, na DNA na slídě a na nanodiamantech na SiO2. Porovnáváme výsledky s jinými konvenčními režimy AFM a ukazujeme výhody NCNR, jako je vyšší prostorové rozlišení, snížená kontaminace hrotu a zanedbatelná změna vzorku. Analyzujeme základní fyzikální a chemické mechanismy ovlivňující měření, diskutujeme otázky stability a různé možné implementace metod. Vysvětlujeme, jak lze metodu NCNR aplikovat v libovolném systému AFM pouhou softwarovou úpravou. Ukazujeme, že metoda tak otevírá nové pole výzkumu pro měření vysoce citlivých a mobilních objektů v nanoměřítku ve vzduchu a v jiném prostředí.

Czech name

Nekontaktní nerezonantní mikroskopie skenovací sondou - SPM měření

Czech description

Výsledkem spolupráce s firmou Bruker, FZÚ AVČR a UOCHB AVČR byla získána data pomocí měření topografie různých vzorků pomocí negativního setpointu a kladné/záporné zpětné vazby na přístroji Dimension ICON AFM. Tato data jsou shrnuta v publikaci „Non-contact non-resonant atomic force microscopy method for measurements of highly mobile molecules and nanoparticles“ podané do časopisu Ultramicroscopy. Mikroskopie atomárních sil (AFM) je v dnešní době nepostradatelnou všestrannou skenovací sondovou metodou široce využívanou pro základní i aplikovaný výzkum ve fyzice, chemii, biologii i průmyslové metrologii. Zde ukazujeme, jak lze přitažlivé síly v AFM za běžných podmínek s výhodou využít k velmi citlivému zkoumání povrchových vlastností i na vysoce mobilních molekulách a nanočásticích. Představujeme stabilní nekontaktní nerezonantní mikroskopie skenovací sondou metodu(NCNR AFM), která umožňuje spolehlivě provádět měření v režimu přitažlivé síly i na vzduchu ovládáním polohy hrotu v blízkosti vzorku bez přímého dotyku. Demonstrujeme proof-of-concept výsledky měření pomocí sinusových oscilací s negativní nastavenou hodnotou setpointu na makrocyklech na bázi helicenu, na DNA na slídě a na nanodiamantech na SiO2. Porovnáváme výsledky s jinými konvenčními režimy AFM a ukazujeme výhody NCNR, jako je vyšší prostorové rozlišení, snížená kontaminace hrotu a zanedbatelná změna vzorku. Analyzujeme základní fyzikální a chemické mechanismy ovlivňující měření, diskutujeme otázky stability a různé možné implementace metod. Vysvětlujeme, jak lze metodu NCNR aplikovat v libovolném systému AFM pouhou softwarovou úpravou. Ukazujeme, že metoda tak otevírá nové pole výzkumu pro měření vysoce citlivých a mobilních objektů v nanoměřítku ve vzduchu a v jiném prostředí.

Type

G_funk - Functional sample

CEP classification

—

OECD FORD branch

21002 - Nano-processes (applications on nano-scale); (biomaterials to be 2.9)

Project

<a href="/en/project/TP01010066" target="_blank" >TP01010066: ProoFOND</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2022

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Internal product ID

data: SPM měření

Numerical identification

TP01010066-G

Technical parameters

Výsledkem spolupráce s firmou Bruker a Fyzikálním Ústavem AVČR je ziskana data pomoci měřeni topografie různých vzorku pomoci negativního setpointu a kladné/záporné zpětné vazby na přístroji Dimension ICON AFM.

Economical parameters

Článek „Non-contact non-resonant atomic force microscopy method for measurements of highly mobile molecules and nanoparticles“, druha revize podana do Ultramicroscopy.

Application category by cost

—

Owner IČO

68407700

Owner name

České vysoké učení technické v Praze / FEL / katedra fyziky

Owner country

CZ - CZECH REPUBLIC

Usage type

V - Výsledek je využíván vlastníkem

Licence fee requirement

Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek

Web page

https://docs.google.com/document/d/1-H8EcHvUaIOAEioiF4Onh532Gd_fBZYx/edit?usp=sharing&ouid=111781647380929334922&rtpof=true&sd=true