Non-contact non-resonant scanning probe microscopy - algorithm

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F22%3A00363158" target="_blank" >RIV/68407700:21230/22:00363158 - isvavai.cz</a>

Result on the web

<a href="https://docs.google.com/document/d/1NjWGZct3aUy9QkjviMgQp_eQGmUeb3P9P2XPbO_1fbo" target="_blank" >https://docs.google.com/document/d/1NjWGZct3aUy9QkjviMgQp_eQGmUeb3P9P2XPbO_1fbo</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Nekontaktní nerezonantní mikroskopie skenovací sondou - algoritmus

Original language description

Nekontaktní nerezonanční metoda mikroskopie atomárních sil využívá atraktivní interakci mezi hrotem a povrchem k zastavení přiblížení hrotu dříve, než se hrot dotkne povrchu. Přiblížení hrotu se zastaví po dosažení jednoho ze čtyř kritérií pro proměnnou průhybu konzoly. Většinou se přiblížení hrotu zastaví po dosažení záporné nastavené hodnoty, čímž se zabrání přímému kontaktu hrotu s povrchem. Pro každý vzorek a každou sondu je experimentálně definována záporná požadovaná hodnota. Aby se zabránilo nežádoucím oscilacím sondy, sonda kmitá ve vertikálním směru v atraktivní oblasti interakcí hrot-vzorek, nikoli na rezonanční frekvenci konzoly. Klíčovými výhodami této metody je snížená kontaminace hrotu a zanedbatelná zmena vzorku ve srovnání s konvenčními metodami AFM. Tato metoda je použitelná pro všechny typy konzol pro měření v jakémkoli prostředí. Lze jej realizovat na všech komerčních AFM bez nutnosti úpravy hardwaru. Pro implementaci této metody je nutná pouze softwarová úprava. Tento výsledek ukazuje algoritmus a skript pro takovou úpravu software.

Czech name

Nekontaktní nerezonantní mikroskopie skenovací sondou - algoritmus

Czech description

Nekontaktní nerezonanční metoda mikroskopie atomárních sil využívá atraktivní interakci mezi hrotem a povrchem k zastavení přiblížení hrotu dříve, než se hrot dotkne povrchu. Přiblížení hrotu se zastaví po dosažení jednoho ze čtyř kritérií pro proměnnou průhybu konzoly. Většinou se přiblížení hrotu zastaví po dosažení záporné nastavené hodnoty, čímž se zabrání přímému kontaktu hrotu s povrchem. Pro každý vzorek a každou sondu je experimentálně definována záporná požadovaná hodnota. Aby se zabránilo nežádoucím oscilacím sondy, sonda kmitá ve vertikálním směru v atraktivní oblasti interakcí hrot-vzorek, nikoli na rezonanční frekvenci konzoly. Klíčovými výhodami této metody je snížená kontaminace hrotu a zanedbatelná zmena vzorku ve srovnání s konvenčními metodami AFM. Tato metoda je použitelná pro všechny typy konzol pro měření v jakémkoli prostředí. Lze jej realizovat na všech komerčních AFM bez nutnosti úpravy hardwaru. Pro implementaci této metody je nutná pouze softwarová úprava. Tento výsledek ukazuje algoritmus a skript pro takovou úpravu software.

Type

R - Software

CEP classification

—

OECD FORD branch

21002 - Nano-processes (applications on nano-scale); (biomaterials to be 2.9)

Project

<a href="/en/project/TP01010066" target="_blank" >TP01010066: ProoFOND</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2022

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Internal product ID

TP01010066-R

Technical parameters

Bezkontaktní nerezonanční metoda mikroskopie atomárních sil využívá atraktivní interakci mezi hrotem a povrchem k zastavení přiblížení hrotu dříve, než se hrot dotkne povrchu. Přiblížení hrotu se zastaví po dosažení jednoho ze čtyř kritérií pro proměnnou průhybu konzoly. Většinou se přiblížení hrotu zastaví po dosažení záporné nastavené hodnoty, čímž se zabrání přímému kontaktu hrotu s povrchem. Pro každý vzorek a každou sondu je experimentálně definována záporná požadovaná hodnota. Aby se zabránilo nežádoucím oscilacím sondy, sonda kmitá ve vertikálním směru v atraktivní oblasti interakcí hrot-vzorek, nikoli na rezonanční frekvenci konzoly. Klíčovými výhodami této metody je snížená kontaminace hrotu a zanedbatelná zmena vzorku ve srovnání s konvenčními metodami AFM. Tato metoda je použitelná pro všechny typy mikroskopů AFM pro měření v jakémkoli prostředí. Lze jej realizovat na všech komerčních AFM bez nutnosti úpravy hardwaru. Pro implementaci této metody jedostačující pouze softwarová úprava. Skript dokáže měřit 20x20px2 AFM obrázky pomocí jednotlivých kritérií B1-B4 a pomocí všech 4 kritérií najednou. Podrobnosti v přiložené dokumentaci.

Economical parameters

Klíčovými výhodami této metody je snížená kontaminace hrotu a zanedbatelná zmena vzorku ve srovnání s konvenčními metodami AFM. Tato metoda je použitelná pro všechny typy mikroskopů AFM pro měření v jakémkoli prostředí. Lze jej realizovat na všech komerčních AFM bez nutnosti úpravy hardwaru. Pro implementaci této metody jedostačující pouze softwarová úprava. SW umožní výrazné zlepšení funkce AFM mikroskopů. Cena licence SW bude stanovena na základě jednání s komerčními partnery. Očekávámě obvyklé určení formou % z prodejní ceny přístrojů. Celkové příjmy mohou díky ceně přístorjů AFM v řádu 1-10 MKč a principielně snadné implementaci SW dosáhnout 10-100 MKč.

Owner IČO

68407700

Owner name

České vysoké učení technické v Praze / FEL / katedra fyziky