X-ray Diffraction Set for Residual Stress Determination Using an Optoelectronic Sensor

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F09%3A00165368" target="_blank" >RIV/68407700:21340/09:00165368 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
X-ray Diffraction Set for Residual Stress Determination Using an Optoelectronic Sensor
Original language description
An experimental X-ray diffraction device for residual stress measurements was supplemented with a laser sensor in order to enable setting-up without switching on the X-ray tube.
Czech name
—
Czech description
—

Project
<a href="/en/project/FT-TA4%2F105" target="_blank" >FT-TA4/105: *Integrity surface.</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2009
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Internal product ID
Laser jedna expozice
Numerical identification
—
Technical parameters
Modifikovaný přístroj na měření zbytkových napětí v průmyslových vzorcích.
Economical parameters
Provozní náklady na pořízení komponent činily cca. 40 tis. Kč.
Application category by cost
—
Owner IČO
68407700
Owner name
České vysoké učení technické v Praze, Fakulta jaderná a fyz. inž.
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence
Licence fee requirement
Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek
Web page
—

Similar results(10)