All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Preparation and analysis of High Entropy Alloys thin films deposited by Ionized Jet Deposition method

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21340%2F20%3A00344690" target="_blank" >RIV/68407700:21340/20:00344690 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    čeština

  • Original language name

    Příprava a analýza tenkých vrstev slitin s vysokou entropií nanesených metodou Ionized Jet Deposition

  • Original language description

    Metodou Ionized Jet Deposition bylo připraveno dvanáct tenkých vrstev. Terčem, ze kterého probíhalo nanášení, byla slitina s vysokou entropií HfNbTaTiZr. Provedli jsme analýzu mikrostruktury nanesených tenkých vrstev pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu, energiově - disperzního spektroskopu a rentgenovou difrakcí. Bylo zjištěno, že vrstvy vznikající za nižšího urychlovacího napětí jsou homogennější a velikost nehomogenit je řádově menší než na vrstvách vzniklých za vyššího napětí. Všechny vrstvy mají homogenní procentuální zastoupení prvků a nanesené vrstvy krystalizují ve stejných strukturách. Popsali jsme charakter vzniklých nehomogenit a důvod jejich vzniku.

  • Czech name

    Příprava a analýza tenkých vrstev slitin s vysokou entropií nanesených metodou Ionized Jet Deposition

  • Czech description

    Metodou Ionized Jet Deposition bylo připraveno dvanáct tenkých vrstev. Terčem, ze kterého probíhalo nanášení, byla slitina s vysokou entropií HfNbTaTiZr. Provedli jsme analýzu mikrostruktury nanesených tenkých vrstev pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu, energiově - disperzního spektroskopu a rentgenovou difrakcí. Bylo zjištěno, že vrstvy vznikající za nižšího urychlovacího napětí jsou homogennější a velikost nehomogenit je řádově menší než na vrstvách vzniklých za vyššího napětí. Všechny vrstvy mají homogenní procentuální zastoupení prvků a nanesené vrstvy krystalizují ve stejných strukturách. Popsali jsme charakter vzniklých nehomogenit a důvod jejich vzniku.

Classification

  • Type

    D - Article in proceedings

  • CEP classification

  • OECD FORD branch

    20506 - Coating and films

Result continuities

  • Project

  • Continuities

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Others

  • Publication year

    2020

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Article name in the collection

    Sborník příspěvků 9. Studentské vědecké konference fyziky pevných látek a materiálů

  • ISBN

    978-80-01-06799-4

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Number of pages

    6

  • Pages from-to

    7-12

  • Publisher name

    České vysoké učení technické v Praze

  • Place of publication

    Praha

  • Event location

    Praha

  • Event date

    Oct 6, 2020

  • Type of event by nationality

    CST - Celostátní akce

  • UT code for WoS article