All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Modified Hecht Model qualifying Radiation Damage in Standard and Oxygenated Silicon Detectors from 10MeV Protons

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21670%2F07%3A15142578" target="_blank" >RIV/68407700:21670/07:15142578 - isvavai.cz</a>

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Modified Hecht Model qualifying Radiation Damage in Standard and Oxygenated Silicon Detectors from 10MeV Protons

  • Original language description

    The Hecht model describes the charge collection efficiency of semiconductor detectors using the mean free path of the charge carriers. While the fits to data are very good for non-irradiated detectors, modifications to the model are necessary to take into account the structural changes in the detectors induced by their exposure to high particle fluences. A modified model is presented. In this model, the mean free path depends on the shape of the electric field and on the charge carrier lifetimes. The lifetimes were measured experimentally from the front- and back-illuminations of the detectors by 660nm laser light and by particles from a 241Am source. This new Hecht model was successfully fitted to alpha and beta charge collection efficiencies of standard and oxygenated silicon detectors after their irradiation by 10MeV protons with fluences varying from 1011 to 3x1014 p/cm2.

  • Czech name

    Modifikovaný Hechtův model kvalifikující radiační poškození ve standardních a okysličených křemíkových detektorech poškozených protony o energii 10 MeV

  • Czech description

    Hechtův model popisuje účinnost sběru náboje v polovodičových detektorech pomocí střední volné dráhy nosičů náboje. Zatímco tento model odpovídá naměřeným datům v případě radiačně nepoškozených detektorů, jeho modifikace jsou nezbytné pro zahrnutí strukturálních změn v detektorech indukovaných jejich expozicí v silném toku částic. Modifikovaný model je prezentován. Střední volná dráha v tomto modelu závisí na tvaru elektrického pole a na dobách života nosučů náboje. Doby života byly měřeny experimentálně z iluminace předních a zadních stěn detektorů jak pulzním laserem o vlnové délce 660 nm tak částicemi alfa emitovanými radionuklidem 241Am. Tento modifikovaný Hechtův model byl úspěšně použit pro analýzu účinností sběru náboje indukovaného částicemi alfa a beta ve standardních i okysličených křemíkových detektorech po jejich ozáření protony s energií 10 MeV a fluencemi z intervalu od 1011 po 3x1014 p/cm2.

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    BG - Nuclear, atomic and molecular physics, accelerators

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    Result was created during the realization of more than one project. More information in the Projects tab.

  • Continuities

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2007

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A, Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment

  • ISSN

    0168-9002

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    576

  • Issue of the periodical within the volume

    1

  • Country of publishing house

    NL - THE KINGDOM OF THE NETHERLANDS

  • Number of pages

    5

  • Pages from-to

    75-79

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database