Counterfeit Semiconductor Components Application Risk And Prevention
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F17%3A63517428" target="_blank" >RIV/70883521:28140/17:63517428 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Rizika a prevence použití nepůvodních polovodičových součástek
Original language description
Článek přibližuje problematiku hrozby nepůvodních součástek v elektronických systémech všeobecně s důrazem na citlivé oblasti lékařské, vojenské a průmyslové aplikace. Přehledově jsou uvedeny metody používané k rozpoznání nepůvodních součástek na základě srovnání s referenční součástkou. Praktickými výsledky je ilustrována metoda porovnávání voltampérových charakteristik, rentgenové analýzy, ablace materiálu pouzdra nad čipem, skenovací elektronové mikroskopie i s přídavným modulem pro analýzu obsahu prvků. Zmíněny jsou i možnosti optických polarizačních a konfokálních mikroskopů. Pojednání uzavírá nástin možností rozvoje metod pro odhalování nepůvodních součástek.
Czech name
Rizika a prevence použití nepůvodních polovodičových součástek
Czech description
Článek přibližuje problematiku hrozby nepůvodních součástek v elektronických systémech všeobecně s důrazem na citlivé oblasti lékařské, vojenské a průmyslové aplikace. Přehledově jsou uvedeny metody používané k rozpoznání nepůvodních součástek na základě srovnání s referenční součástkou. Praktickými výsledky je ilustrována metoda porovnávání voltampérových charakteristik, rentgenové analýzy, ablace materiálu pouzdra nad čipem, skenovací elektronové mikroskopie i s přídavným modulem pro analýzu obsahu prvků. Zmíněny jsou i možnosti optických polarizačních a konfokálních mikroskopů. Pojednání uzavírá nástin možností rozvoje metod pro odhalování nepůvodních součástek.
Classification
Type
J<sub>ost</sub> - Miscellaneous article in a specialist periodical
CEP classification
—
OECD FORD branch
20201 - Electrical and electronic engineering
Result continuities
Project
<a href="/en/project/LO1303" target="_blank" >LO1303: Promoting sustainability and development of the Centre for Security, Information and Advanced Technologies (CEBIA-Tech)</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2017
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Volume of the periodical
62
Issue of the periodical within the volume
3/2017
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
4
Pages from-to
87-90
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—