Threats hidden in counterfeit components package
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F70883521%3A28140%2F20%3A63527080" target="_blank" >RIV/70883521:28140/20:63527080 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://jmo.fzu.cz" target="_blank" >http://jmo.fzu.cz</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Hrozby ukryté v pouzdrech nepůvodních elektronických součástek
Original language description
Článek pojednává o stále aktuálním tématu nepůvodních elektronických součástek, především polovodičových. Rizika spojená s jejich použitím ve výrobcích jsou hrozbou především v citlivých aplikačních oblastech, kde selhání může mít katastrofální následky. Mezi mnoha metodami používanými pro rozpoznání rizikových součástek, představují optické metody velmi užitečný nástroj, bez kterého se hodnocení součástek neobejde. Článek ukazuje možnosti optických metod na příkladu výkonového tranzistoru, u něhož je v první fázi snaha detekovat rozdíly v popisu pouzdra vzhledem k referenční součástce a vzhledem k dokumentaci publikovanou originálním výrobcem. Mezi optické metody můžeme zařadit také odstraňování části plastového pouzdra nad čipem. Tento postup je v článku zmíněn pouze okrajově. Je však připojen obrázek, který ukazuje čip integrovaného obvodu zobrazený polarizačním mikroskopem po odstranění materiálu pouzdra za přispění vláknového laseru.
Czech name
Hrozby ukryté v pouzdrech nepůvodních elektronických součástek
Czech description
Článek pojednává o stále aktuálním tématu nepůvodních elektronických součástek, především polovodičových. Rizika spojená s jejich použitím ve výrobcích jsou hrozbou především v citlivých aplikačních oblastech, kde selhání může mít katastrofální následky. Mezi mnoha metodami používanými pro rozpoznání rizikových součástek, představují optické metody velmi užitečný nástroj, bez kterého se hodnocení součástek neobejde. Článek ukazuje možnosti optických metod na příkladu výkonového tranzistoru, u něhož je v první fázi snaha detekovat rozdíly v popisu pouzdra vzhledem k referenční součástce a vzhledem k dokumentaci publikovanou originálním výrobcem. Mezi optické metody můžeme zařadit také odstraňování části plastového pouzdra nad čipem. Tento postup je v článku zmíněn pouze okrajově. Je však připojen obrázek, který ukazuje čip integrovaného obvodu zobrazený polarizačním mikroskopem po odstranění materiálu pouzdra za přispění vláknového laseru.
Classification
Type
J<sub>ost</sub> - Miscellaneous article in a specialist periodical
CEP classification
—
OECD FORD branch
20201 - Electrical and electronic engineering
Result continuities
Project
<a href="/en/project/LO1303" target="_blank" >LO1303: Promoting sustainability and development of the Centre for Security, Information and Advanced Technologies (CEBIA-Tech)</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Others
Publication year
2020
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6441
e-ISSN
—
Volume of the periodical
65
Issue of the periodical within the volume
7-8/2020
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
4
Pages from-to
203-206
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—