Filters
Rough surface scattering simulations using graphics cards
BH - Optika, masery a lasery
- 2010 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units
BH - Optika, masery a lasery
- 2010 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Bezlaminační technologie výroby fotovoltaického panelu
Prototyp vzorku fotovoltaického panelu (2 x 2 5-ti palcové solární články z krystalického křemíku) byl vyroben bez použití standardních částí panelu, jako jsou fotovoltaické tvrzené sklo a různé organické laminační folie (EVA a TEDLAR). Tento panel s...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2010 •
- Gprot
Rok uplatnění
Gprot - Prototyp
Approaches towards c-Si Industrial Solar Cell Production with Conversion Efficiency above 20%
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2010 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Near-field optical microscopy simulations using graphics processing units
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2010 •
- Jx •
- Link
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Výsledek na webu
Application of spectroscopic imaging reflectometry to analysis of area non-uniformity in diamond-like carbon films
BH - Optika, masery a lasery
- 2009 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Precise measurement of thickness distribution of non-uniform thin films by imaging spectroscopic reflectometry
BH - Optika, masery a lasery
- 2009 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Combined method of spectroscopic ellipsometry and photometry as an efficient tool for the optical characterisation of chalcogenide thin films
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2009 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Optická charakterizace nestechiometrických vrstev nitridu křemíku
Characterizations of non-stoichiometric silicon nitride films prepared by PECVD method onto silicon single crystal substrates are performed using variable angle spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry and Rutherford backscattering ...
BH - Optika, masery a lasery
- 2008 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Vliv vzájemných korelačních efektů na optické veličiny drsných vrstev
Within the Rayleigh-Rice theory the influence of layer boundary roughness on coherently reflected light is expressed using very complex formulae. Therefore we deal with the simplification of these formulae by employing an approximation based on negle...
BH - Optika, masery a lasery
- 2008 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
- 1 - 10 out of 25