Materiálové a rentgenooptické vlastnosti tvarovaných křemíkových plátků
Cíle projektu
Podstatou projektu je studium vlastností tenkých monokrystalů křemíku (Si plátků) po vystavení teplotním a mechanickým stresům vedoucím k jejich plastické deformaci. Prostředkem je výzkum většinou dosud neprobádaných či nevyužívaných možností tvarování Si plátků do přesných optických ploch a struktur. Vlastnímu tvarování Si plátků za použití vhodných teplot, tlaků a ochranné atmosféry bude předcházet teoretická studie s rozsáhlým využitím počítačového modelování. Potřebný software bude průběžně vyvíjen.Vnitřní struktura a povrchové vlastnosti deformovaných Si plátků budou zkoumány s použitím rentgenové difrakce, rentgenové reflexe, optické interferometrie, přesných metod měření, topografie povrchu apod. Též budou studovány způsoby dalšího zlepšování kvality Si plátků spolu se souvisejícími metodami měření. Výsledky umožní vývoj nových typů rentgenové optiky a optických struktur pro důležité aplikace, jako např. velké kosmické rentgenové teleskopy a kolektory solárních článků.
Klíčová slova
Veřejná podpora
Poskytovatel
Akademie věd České republiky
Program
Granty výrazně badatelského charakteru zaměřené na oblast výzkumu rozvíjeného v současné době zejména v AV ČR
Veřejná soutěž
Výzkumné granty 7 (SAV02007-A)
Hlavní účastníci
—
Druh soutěže
VS - Veřejná soutěž
Číslo smlouvy
IAAX01220701
Alternativní jazyk
Název projektu anglicky
Material and X-Ray Optical Properties of Formed Silicon Monocrystals
Anotace anglicky
The project is based on a study of properties of thin Si monocrystals (Si wafers) after their exposure to thermal and mechanical stresses leading to their plastic deformation. Research will be done through yet mostly unexplored or unexploited possibilities of forming of Si wafers into precise optical surfaces and structures. Theoretical study using computer modeling will precede the Si wafers forming under suitable temperatures, pressures and protective atmosphere. The necessary software will be developed. Internal structure and surface properties of deformed Si wafers will be researched with use of X-ray diffraction, X-ray reflection, optical interferometry, precise optical methods, surface topography etc. Methods of further quality improvement of Siwafers will be also studied together with relevant measurements methods. Results will allow design of new types of X-ray optics and optical structures for important applications, eg. cosmic X-ray telescopes and solar collectors.
Vědní obory
Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
JJ - Ostatní materiály
CEP - vedlejší obor
—
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory
(dle převodníku)20502 - Paper and wood
20503 - Textiles; including synthetic dyes, colours, fibres (nanoscale materials to be 2.10; biomaterials to be 2.9)
21001 - Nano-materials (production and properties)
21002 - Nano-processes (applications on nano-scale); (biomaterials to be 2.9)
Hodnocení dokončeného projektu
Hodnocení poskytovatelem
O - Nesplněno zadání, smlouva však byla dodržena
Zhodnocení výsledků projektu
Nebyly vytvořeny kvalitní publikační výstupy prokazující splnění cílů projektu.
Termíny řešení
Zahájení řešení
1. 1. 2007
Ukončení řešení
31. 12. 2011
Poslední stav řešení
U - Ukončený projekt
Poslední uvolnění podpory
18. 3. 2011
Dodání dat do CEP
Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP12-AV0-IA-U/02:2
Datum dodání záznamu
28. 6. 2013
Finance
Celkové uznané náklady
5 607 tis. Kč
Výše podpory ze státního rozpočtu
5 607 tis. Kč
Ostatní veřejné zdroje financování
0 tis. Kč
Neveřejné tuz. a zahr. zdroje finan.
0 tis. Kč
Základní informace
Uznané náklady
5 607 tis. Kč
Statní podpora
5 607 tis. Kč
100%
Poskytovatel
Akademie věd České republiky
CEP
JJ - Ostatní materiály
Doba řešení
01. 01. 2007 - 31. 12. 2011