Vytváření a charakterizace na atomární úrovni pomocí mikroskopu atomárních sil.

Název projektu anglicky
Assembling and characterization at atomic scale using atomic force microscopy
Anotace anglicky
Aim of this project is to design new approaches to assemble and characterize complex nanostructures on semiconductor surfaces by scanning probe microscopies. Heterogeneous atomic clusters will be created with the controlled atomic manipulation. The relation between the tunneling current and the chemical bond will be studied on the atomic scale. In this project, we plan to develop new experimental and theoretical techniques of the scanning probe microscopy. The combination both experimental and theoretical tools will open the full understanding of underlaying physical and chemical processes.

Kategorie VaV
ZV - Základní výzkum
CEP - hlavní obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP - vedlejší obor
CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
CEP - další vedlejší obor
—
OECD FORD - odpovídající obory <br>(dle <a href="http://www.vyzkum.cz/storage/att/E6EF7938F0E854BAE520AC119FB22E8D/Prevodnik_oboru_Frascati.pdf">převodníku</a>)
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)<br>10403 - Physical chemistry

Hodnocení poskytovatelem
U - Uspěl podle zadání (s publikovanými či patentovanými výsledky atd.)
Zhodnocení výsledků projektu
V rámci projektu jsme se studovali vztah mezi tunelovacím proudem a chemickou silou. Dále jsme analyzovali souvislost mezi chemické reaktivity hrotu, tj. velikostí maximální krátkodosahové síly, a jeho schpností provádět atomární manipulace na povrchu p?

Důvěrnost údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Systémové označení dodávky dat
CEP12-MSM-ME-U/01:1
Datum dodání záznamu
12. 7. 2012

Podobné projekty(10)