Filtry
Zobrazit více
Zobrazit více
Zobrazit více
Zobrazit více
Zobrazit více
Více filtrů
Projekty
*Nové kontrastní mechanismy v rastrovacím elektronovém mikroskopu (FR-TI3/323)
*Rozšíření rejstříku zobrazovacích elektronových mikroskopů vyráběných navrhovatelem projektu o mikroskopii pomalými elektrony zejména pod 50 eV do jednotek eV, tj. do oblasti umožňující citlivé zkoumání krystalické i elektronické struktury preparátu...
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2011 - 2012 •
- 2 570 tis. Kč •
- 816 tis. Kč •
- MPO
Řešení projektu: 1. 9. 2011 - 30. 6. 2012
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (32%)
Poskytovatel: Ministerstvo průmyslu a obchodu
Kontrast a detekce v rastrovací elektronové mikroskopii (Contrast and detection in scanning electron microscopy) (OE08012)
Vyvinout počítačové modely interakce elektronů s materiálem a souhrnného procesu detekce rastrovaného obrazu, vytvořit nové techniky vytváření kontrastu a nové typy detektorů a použít je při zobrazování nových polovodičových materiálů a nanostruktur....
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2008 - 2010 •
- 18 270 tis. Kč •
- 7 322 tis. Kč •
- MŠMT
Řešení projektu: 1. 1. 2008 - 31. 12. 2010
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (40%)
Poskytovatel: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Rastrovací prozařovací elektronová mikroskopie s velmi pomalými elektrony (IAA100650902)
Rastrovací prozařovací elektronový mikroskop, pracující obvykle s energií primárního svazku elektronů nad desítkami keV, je široce užívané zařízení pro studium tenkých vzorků. Střední volné dráhy pružného (EMFP) a nepružného (EMFP) rozptylu elektronů...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2009 - 2011 •
- 2 467 tis. Kč •
- 2 467 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2009 - 31. 12. 2011
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
Detekce signálních elektronů při nízkých energiích primárního svazku v rastrovací elektronové mikroskopii (KJB200650501)
Nízká energie signálních elektronů, zejména zpětně odražených elektronů je příčinou snížené výtěžnosti detektorů. Zatímco problém detekce sekundárních elektronů byl úspěšně vyřešen jejich odsáváním v magnetickém poli a detekcí v objektivové čočce, úč...
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2005 - 2007 •
- 1 669 tis. Kč •
- 1 669 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2005 - 1. 12. 2007
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
Detekční systém pro záznam signálů čistých sekundárních nebo zpětně odražených elektronů v ESEM (KJB200650602)
Projekt se zabývá jedním z dosud nevyřešených problémů v ESEM, a to detekcí pravých sekundárních elektronů způsobem, který výrazně eliminuje příspěvek nežádoucích zpětně odražených elektronů v signálu. Princip detekce spočívá v odklonění sekundárních...
BH - Optika, masery a lasery
- 2006 - 2008 •
- 1 545 tis. Kč •
- 1 545 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2006 - 31. 12. 2008
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
Speciální produkty pro fyziku a chemii povrchů. (OK 322)
Optický návrh , konstrukce, technologie fotoemisního a nízkoenergetického elektronového mikroskopu s elektromagnetickým imerzním objektivem, magnetickým hranolem, elektrostatickým zrcadlem a projektivem......
BG - Jaderná, atomová a molekulová fyzika, urychlovače
- 1997 - 2001 •
- 4 387 tis. Kč •
- 1 300 tis. Kč •
- MŠMT
Řešení projektu: 1. 1. 1997 - 1. 1. 2001
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (30%)
Poskytovatel: Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Vývoj a zhotovení prototypů 3 typů digitálních rastrovacích mikroskopů (TC5-169)
Vývoj, zhotovení prototypů a provedení zkoušek řady digitálních rastrovacích elektronových mikroskopů nové generace, které umožní zkoumání a prvkovou analýzu vodivých i nevodivých materiálů. 0 0......
JR - Ostatní strojírenství
- 1999 - 2000 •
- 14 100 tis. Kč •
- 4 900 tis. Kč •
- MH
Řešení projektu: 1. 1. 1999 - 1. 1. 2000
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (35%)
Poskytovatel: Ministerstvo hospodářství
Vývoj atomárního zdroje pro aplikace v elektronové mikroskopii (TJ01000271)
Vývoj zdroje pro generování atomárního vodíku pro aplikaci v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Výzkum a vývoj metodiky měření povrchových změn polovodičových a kovových vzorků po aplikaci atomárního vodíku.......
Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
- 2018 - 2019 •
- 2 288 tis. Kč •
- 1 934 tis. Kč •
- TA ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2018 - 31. 12. 2019
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (85%)
Poskytovatel: Technologická agentura ČR
Koherentní zobrazování nanostruktur v nízkoenergiovém rastrovacím elektronovém mikroskopu s plošným detektorem elektronů (IAA100650803)
Bude studován mechanismus vzniku kontrastu v rastrovacím elektronovém mikroskopu s velmi nízkou energií elektronů, založený na rozdílech v rozdělení signálních elektronů mezi jednotlivými body povrchu objemového vzorku. Signální elektrony vycházející...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2008 - 2010 •
- 2 864 tis. Kč •
- 2 864 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 2008 - 31. 12. 2010
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (100%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu (IAA1065901)
Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) je tradičně považován za nekoherentně zobrazující zařízení produkující topografický resp. materiálový kontrast v obraze vytvářeném rastrováním po jednotlivých bodech. SEM s pomalými elektrony na bázi katodové čo...
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 1999 - 2002 •
- 4 280 tis. Kč •
- 1 785 tis. Kč •
- AV ČR
Řešení projektu: 1. 1. 1999 - 1. 1. 2002
Uznané náklady
Podpora ze státního rozpočtu (42%)
Poskytovatel: Akademie věd České republiky
- 1 - 10 z 1 329