Filtry
Xenon focused ion beam in the shape memory alloys investigation – the case of NiTi and CoNiAl
Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
- 2014 •
- JSC •
- Odkaz
Rok uplatnění
JSC - Článek v periodiku v databázi SCOPUS
Výsledek na webu
Comparative study of plasmonic antennas fabricated by electron beam and focused ion beam lithography
Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
- 2018 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
FIB Induced Damage Examined with the Low Energy SEM
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2011 •
- Jx •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Výsledek na webu
3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2010 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Ligand Stabilization and Charge Transfer in Dissociative Ionization of Fe(CO)5 Aggregates
CF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
- 2016 •
- Jx •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Výsledek na webu
Prospects of the scanning low energy electron microscopy in materials science
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2010 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
In-situ Micro and Nano mechanical investigations of compressed beech wood using Scanning Electron Microscope with Focused Ion Beam
Paper and wood
- 2018 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Fatigue Crack Initiation Change of Cast AZ91 Magnesium Alloy from Low to Very High Cycle Fatigue Region
Materials engineering
- 2021 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
NANOSTRUCTURED Mo-B-C COATINGS
BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech
- 2016 •
- Jx •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Výsledek na webu
LITESCOPE (TM) AFM-IN-SEM: ADVANCED TOOL FOR CORRELATIVE IMAGING AND SURFACE CHARACTERIZATION
Nano-materials (production and properties)
- 2019 •
- D •
- Odkaz
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Výsledek na webu
- 1 - 10 z 9 055