Filtry
About the information depth of backscattered electron imaging
Mechanical engineering
- 2017 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
About the information depth of backscattered electron imaging
Materials engineering
- 2017 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
Approaches to the Collection Contrast in the Immersion Objective Lens of the Scanning Electron Microscope
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
New detection systems of secondary and backscattered electrons for environmental scanning electron microscopes
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
UTILIZATION OF ELECTRON CHANNELLING CONTRAST IMAGING TO DISPLAY CRYSTAL LATTICE ORIENTATION IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
Materials engineering
- 2018 •
- O
Rok uplatnění
O - Ostatní výsledky
Detection of Backscattered Electrons for Biological Specimens Study
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2001 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Backscattered electrons in examination of materials
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Study of Surface Tooth Treatment using Low-Vacuum Scanning Electron Microscopy.
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2003 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2010 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
- 1 - 10 z 592