isvav_result

publication_year

occurrences__organization__code

solver__id__sc2

result_type__code

Druh výsledku je určen klasifikací RIV, která je oficálním číselníkem IS VaVaI. Stručný přehled výsledků dle RIV je uveden <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1395" target="_blank" >zde</a>.

language__code

Jazyk výsledku udáva původní jazyk, ve kterém byl daný výsledek vytvořen. Kompletní seznam jazyků ve kterém je možno výsledek do RIV předložit je <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1397" target="_blank" >zde</a>.

cep__code

ford__code

_group_id67

occurrences__funder__code

Dodavatel dat je poskytovatel podpory na VaV, s jejíž pomocí bylo výsledku dosaženo.

project__programme__code

x_range_count_solvers

project__id

Co hledáte?

Rychlé hledání

Chytré vyhledávání

Filtry

Comparing different approaches to characterization of focused X-ray laser beams

DMD wavefront sensor for laser beam characterization

Micro ion beam used to optimize the quality of microstructures based on polydimethylsiloxane

Ion and Neutron Beams Discover New Facts from History

3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)

Spot size characterization of focused non-Gaussian X-ray laser beams

Ion -beam method characterization of erbium incorporation into glass surface for photonics applications

Scanning double-beam laser interferometer for area measurement of thickness piezoelectric coefficient

Light beam induced voltage (LBIV), low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools

Precision of silicon oxynitride refractive-index profile retrieval using optical characterization