Filtry
Residual Lattice Strain and Phase Distribution in Ti-6Al-4V Produced by Electron Beam Melting
Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
- 2019 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
Study of twinning in texture-free cast magnesium using acoustic emission technique
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2013 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Effect of solution annealing on low cycle fatigue of 304L stainless steel
Materials engineering
- 2021 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
Poorly crystalline Pd-Hg-Au intermetallic compounds from Córrego Bom Sucesso, southern Serra do Espinhaço, Brazil.
DB - Geologie a mineralogie
- 2009 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Charakteristics of coincident site lattice grain boundaries developed during equal channel angular pressing of magnesium single crystals
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
- 2010 •
- Jx •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Výsledek na webu
Backscattered electron imaging using the improved YAG scintillation detector.
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2003 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Collection solid angle of backscattered electrons in environmental scanning electron microscopy.
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2003 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Backscattered electrons in examination of materials
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
UTILIZATION OF ELECTRON CHANNELLING CONTRAST IMAGING TO DISPLAY CRYSTAL LATTICE ORIENTATION IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
Materials engineering
- 2018 •
- O
Rok uplatnění
O - Ostatní výsledky
Low Energy Reflection and High Angle Reflection of Electrons in the SEM
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2010 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
- 1 - 10 z 8 173