isvav_result

publication_year

occurrences__organization__code

solver__id__sc2

result_type__code

Druh výsledku je určen klasifikací RIV, která je oficálním číselníkem IS VaVaI. Stručný přehled výsledků dle RIV je uveden <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1395" target="_blank" >zde</a>.

language__code

Jazyk výsledku udáva původní jazyk, ve kterém byl daný výsledek vytvořen. Kompletní seznam jazyků ve kterém je možno výsledek do RIV předložit je <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1397" target="_blank" >zde</a>.

cep__code

ford__code

_group_id67

occurrences__funder__code

Dodavatel dat je poskytovatel podpory na VaV, s jejíž pomocí bylo výsledku dosaženo.

project__programme__code

x_range_count_solvers

project__id

Co hledáte?

Rychlé hledání

Chytré vyhledávání

Filtry

Fabrication and optimalization of dielectric plasmonic metalenses

Geometric-Phase Microscopy for Quantitative Phase Imaging of Plasmonic Metasurfaces

Towards the scale-up of the formation of nanoparticles on alpha-Ag2WO4 with bactericidal properties by femtosecond laser irradiation

Nanostructuring of PMMA, GaAs, SiC and Si samples by focused XUV laser beam

Nanostructuring of PMMA, GaAs, SiC and Si samples by focused XUV laser beam

Patterning large area plasmonic nanostructures on nonconductive substrates using variable pressure electron beam lithography

EUV radiation of pulse high-current proximity wall-stabilized discharges

Deformation of thin self-standing mask at inhomogeneous irradiation.

EUV radiation of pulse high-current proximity wall-stabilized discharges

Graphene removal by water-assisted Focused-Electron-Beam-Induced Etching – unveiling the dose and dwell time impact on etch profile and the topographical changes in SiO2 substrate