Filtry
Collection of secondary electrons in scanning electron microscopes
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2009 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
Approaches to the Collection Contrast in the Immersion Objective Lens of the Scanning Electron Microscope
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
New detection systems of secondary and backscattered electrons for environmental scanning electron microscopes
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2012 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Biophysical simulation tool PARTRAC: Modelling proton beams at therapy-relevant energies
Radiology, nuclear medicine and medical imaging
- 2019 •
- Jimp •
- Odkaz
Rok uplatnění
Jimp - Článek v periodiku v databázi Web of Science
Výsledek na webu
Secondary electron hyper spectral imaging in helios nanolab - mapping materials properties or artefacts?
Coating and films
- 2018 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
SEM acquired electronic contrast of doped areas in semiconductors and its interpretation.
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2002 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Secondary electron contrast in doped semiconductor with presence of a surface ad-layer
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2009 •
- D
Rok uplatnění
D - Stať ve sborníku
Ionisation Detector for Environmental Scanning Microscope
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2011 •
- P
Rok uplatnění
P - Patent
Efficiency of Collection of the Secondary Electrons in SEM.
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
- 2003 •
- Jx
Rok uplatnění
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
- 1 - 10 z 4 801