isvav_result

publication_year

occurrences__organization__code

solver__id__sc2

result_type__code

Druh výsledku je určen klasifikací RIV, která je oficálním číselníkem IS VaVaI. Stručný přehled výsledků dle RIV je uveden <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1395" target="_blank" >zde</a>.

language__code

Jazyk výsledku udáva původní jazyk, ve kterém byl daný výsledek vytvořen. Kompletní seznam jazyků ve kterém je možno výsledek do RIV předložit je <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1397" target="_blank" >zde</a>.

cep__code

ford__code

_group_id67

occurrences__funder__code

Dodavatel dat je poskytovatel podpory na VaV, s jejíž pomocí bylo výsledku dosaženo.

project__programme__code

x_range_count_solvers

project__id

Co hledáte?

Rychlé hledání

Chytré vyhledávání

Filtry

White-light spectral interferometry with the equalization wavelength determination used to measure distances and displacements.

Highly sensitive displacement measurement based on spectral interferometry and Vernier effect

White-light spectral interferometry with the uncompensated Michelson interferometer and the group refractive index dispersion in fused silica.

Measuring intermodal dispersion in optical fibres using white-light spectral interferometry with the compensated Michelson interferometer.

White-light spectral interferometry and reflectometry to measure thickness of thin films

Zero-dispersion wavelength measurement of fiber polarization modes using a supercontinuum source

Spectral interferometry-based chromatic dispersion measurement of fibre including the zero-dispersion wavelength

The effect of silicon substrate on thickness of SiO2 thin film analysed by spectral reflectometry and interferometry

Measuring small thickness changes of a thin film by white-light spectral interferometry

Spectral ellipsometry based on a channeled spectrum detection to measure the thickness of a thin film