isvav_result

publication_year

occurrences__organization__code

solver__id__sc2

result_type__code

Druh výsledku je určen klasifikací RIV, která je oficálním číselníkem IS VaVaI. Stručný přehled výsledků dle RIV je uveden <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1395" target="_blank" >zde</a>.

language__code

Jazyk výsledku udáva původní jazyk, ve kterém byl daný výsledek vytvořen. Kompletní seznam jazyků ve kterém je možno výsledek do RIV předložit je <a href="https://www.vyzkum.cz/FrontClanek.aspx?idsekce=1397" target="_blank" >zde</a>.

cep__code

ford__code

_group_id67

occurrences__funder__code

Dodavatel dat je poskytovatel podpory na VaV, s jejíž pomocí bylo výsledku dosaženo.

project__programme__code

x_range_count_solvers

project__id

Co hledáte?

Rychlé hledání

Chytré vyhledávání

Filtry

Localization effects in the disordered Ta interlayer of multilayer Ta–FeNi films: Evidence from dc transport and spectroscopic ellipsometry study

Ellipsometry - a tool for surface and thin film analysis

Assessment of non-uniform thin films using spectroscopic ellipsometry and imaging spectroscopic reflectometry

Combination of spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry with including light scattering in the optical characterization of randomly rough silicon surfaces covered by native oxide layers

Optical characterisation of SiOxCyHz thin films non-uniform in thickness using spectroscopic ellipsometry, spectroscopic reflectometry and spectroscopic imaging reflectometry

Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů.

Optical characterization of inhomogeneous thin films of ZrO2 by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry

Optimized calibration and measurement procedures in rotating analyzer and rotating polarizer ellipsometry

In-situ analysis of PMPSI by spectroscopic ellipsometry and XPS

Plasma chemistry during the deposition of a-C : H films and its influence on film properties.