Spectroscopic ellipsometry on sinusoidal surface-relief gratings

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216208%3A11320%2F05%3A00001111" target="_blank" >RIV/00216208:11320/05:00001111 - isvavai.cz</a>
Alternative codes found
RIV/00177016:_____/05:#0000329
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Spectroscopic ellipsometry on sinusoidal surface-relief gratings
Original language description
Spectroscopic ellipsometry (SE) is used to study a sinusoidal-relief grating fabricated on a surface of transparent polymer. An optically thick polymer layer is situated on a glass substrate and its refraction index is optically matched to the index of the glass. The rigorous coupled wave analysis, implemented as the Airy-like internal reflection series, is applied to calculate the optical response of the relief grating.
Czech name
Spektroskopická elipsometrie na mřížkách se sinusoidálním reliefem povrchu
Czech description
Spektroskopická elipsometry (SE) je užita ke studiu mřížky se sinusoidálním reliefem povrchu vyrobené na povrchu transparentního polymeru. Opticky tlustá polymerová vrstva je umístěna na skleněné podložce a její index lomu je opticky přizpůsoben indexu lomu skla. Rigorózní analýza vázaných vln na bázi Airyho řady vnitřních odrazů je užita k výpočtu optické odezvy této mřížky.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/GA202%2F03%2F0776" target="_blank" >GA202/03/0776: Magneto-optical effects in magnetic nanostructures</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2005
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)