All

What are you looking for?

All
Projects
Results
Organizations

Quick search

  • Projects supported by TA ČR
  • Excellent projects
  • Projects with the highest public support
  • Current projects

Smart search

  • That is how I find a specific +word
  • That is how I leave the -word out of the results
  • “That is how I can find the whole phrase”

Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy

The result's identifiers

  • Result code in IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F04%3A00010693" target="_blank" >RIV/00216224:14310/04:00010693 - isvavai.cz</a>

  • Alternative codes found

    RIV/00177016:_____/04:#0000335

  • Result on the web

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternative languages

  • Result language

    angličtina

  • Original language name

    Optical properties of ZnTe films prepared by molecular beam epitaxy

  • Original language description

    In this paper, the optical properties of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy (MBE) onto GaAs single crystal substrates are studied using the combined optical method employing a simultaneous interpretation of experimental data obtained by means of variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and near-normal spectroscopic rellectometry (NNSR). The spectral dependences of both the optical constants, i.e. the refractive index and extinction coefficient, characterizing these films are presented within the spectral region 230-850 nm. It is shown that the optical properties of the ZnTe epitaxial films depend on the values of their thickness. This conclusion was found using the model of the optical constants exhibiting a profile across these films. A roughness of the upper boundaries of the ZnTe films and the existence of a very thin native oxide layer (NOL) on these boundaries are taken into account within the optical analysis.

  • Czech name

    Optické vlastnosti vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií

  • Czech description

    V článku jsou studovány optické vlastnosti epitaxních vrstev ZnTe připravených molekulovou svazkovou epitaxií na podložky tvořené monokrystalem GaAs pomocí kombinované optické metody využívající současnou interpretaci experimentálních dat obdržených víceúhlovou spektroskopickou elipsometrií a spektroskopickou reflektometrií. Spektrální závislosti obou optických konstant, tj. indexu lomu a extinkčního koeficientu, charakterizující tyto vrstvy jsou uvedeny ve spektrálním intervalu 230-850 nm. Ukázali jsme, že optické vlastnosti vrstev ZnTe závisí na hodnotě jejich tloušťky. Tento závěr byl nalezen pomocí modelu optických konstant vykazujících profil napříč vrstvami. Drsnost horních rozhraní ZnTe vrstev a existence velmi tenkých přirozených oxidových vrstev na těchto rozhraních jsou brány rovněž v úvahu při provedené optické analýze studovaných vrstev.

Classification

  • Type

    J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

  • CEP classification

    BM - Solid-state physics and magnetism

  • OECD FORD branch

Result continuities

  • Project

    <a href="/en/project/GA202%2F01%2F1110" target="_blank" >GA202/01/1110: Optical and mechanical properties of DLC : Si thin films prepared by the PECVD method</a><br>

  • Continuities

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Others

  • Publication year

    2004

  • Confidentiality

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Data specific for result type

  • Name of the periodical

    Thin Solid Films

  • ISSN

    0040-6090

  • e-ISSN

  • Volume of the periodical

    468

  • Issue of the periodical within the volume

    1-2

  • Country of publishing house

    GB - UNITED KINGDOM

  • Number of pages

    10

  • Pages from-to

    193-202

  • UT code for WoS article

  • EID of the result in the Scopus database