Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00013026" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00013026 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Optical characterization of double layers containing epitaxial ZnSe and ZnTe films

Original language description

In this paper results of the optical characterisation of double layers consisting of ZnTe and ZnSe thin films prepared by molecular beam epitaxy onto GaAs single crystal substrates are presented. For this optical characterisation the optical method basedon combining variable angle spectroscopic ellipsometry and near-normal spectroscopic reflectometry is used in multi-sample modification applied within the spectral region 230-850 nm. Using this method the spectral dependences of the optical constants ofthe upper ZnTe thin films are determined within the spectral region mentioned above. Spectral dependences of the optical constants of the lower ZnSe thin films were determined within the spectral region 450-850 nm. Boundary roughness of these double layers and overlayers is respected. RMS values of the heights of the irregularities of the boundaries and thicknesses and optical constants of the overlayers are determined by means of the combined optical method as well. The uppermost bound

Czech name

Optická charakterizace dvojvrstev obsahující eptaxní ZnSe a ZnTe vrstvy

Czech description

V tomto článkujsou presentovány výsledky optické charakterizace dvojvrstev sestávajících se z ZnTe a ZnSe vrstev připravených molekulární svazkovou epitaxií na podložky z monokrystalického GaAs. Pro optickou charakterizaci byla využita optická metoda založená na víceúhlové spektroskopické elipsometrii a téměř kolmé spektroskopické reflektometrii v podobě mnohavzorkové modifikace v rámci oblasti 230-850 nm. Užitím této metody jsou určeny spektrální závislosti optických konstant horních vrstev ZnTe uvnitřvýše zmíněné spetkrální oblasti. Spektrální závislosti optických konstant spodních vrstev ZnSe byly určeny v rámci spektrální oblasti 450-850 nm. Drsnost rozhraní je respektována. RMS hodnoty výšek nerovností rozhraní a tloušťky a optické konstanty povrchových vrstev jsou určeny pomocí kombinované metody rovněž. Horní rozhraní dvojvrstev jsou navíc analyzovány pomocí mikroskopie atomové síly kvůli ověření hodnot RMS těchto rozhraní obdržených pomocí optické metody. Spektrální závislosti

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/GA101%2F01%2F1104" target="_blank" >GA101/01/1104: Realisation of thelaboratory instrument for surface roughness measurement by holographic interferometry</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Journal of Modern Optics

ISSN

0950-0340

e-ISSN

—

Volume of the periodical

52

Issue of the periodical within the volume

4

Country of publishing house

GB - UNITED KINGDOM

Number of pages

20

Pages from-to

583-602

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—