Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F05%3A00015082" target="_blank" >RIV/00216224:14310/05:00015082 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Atomic Force Microscope Tip Influence on the Fractal and Multi-Fractal Analyses of the Properties of Randomly Rough Surafaces

Original language description

In this chapter several fractal and multi-fractal analysis methods are studied to characterize their efficiency on evaluating fractal properties of randomly rough surfaces. Moreover, results concerning estimation of atomic force microscopy (AFM) tip influence on evaluation of fractal properties of rough surfaces are presented. Randomly rough surfaces are simulated by means of spectral synthesis method and AFM tip convolution with the simulated surface is numerically performed. The results of the fractaland multi-fractal analysis before and after tip convolution are compared. It is shown that significant discrepancies can be observed between different fractal analysis methods applied on the same simulated data. This fact is true in particular if the data are convolved with AFM tip having relatively large apex radius in comparison to objects forming surface roughness

Czech name

Vliv hrotu mikroskopu atomové síly na fraktálovou a multi-fraktálovou analýzu vlastností náhodně drsných povrchů

Czech description

V této kapitole jsou studovány metody fraktálové a multi-fraktálové analýzy z hlediska charakterizace jejich efektivity při hodnocení fraktálových vlastností náhodně drsných povrchů. Navíc jsou zde uvedeny výsledky týkající se odhadu vlivu hrotu mikroskopu na určení fraktálových vlastností drsných povrchů. Náhodně drsné povrchy jsou simulovány pomocí metody spektrální syntézy a AFM konvoluce hrotu se simulovaným povrchem je provedena numericky. Výsledky fraktálové analýzy před a po konvoluci jsou srovnány. Je ukázáno, že mohou být pozorovány významné nesrovnalosti mezi těmito rozdílnými metodami fraktálové analýzy aplikovanými na simulovaná data. Tato skutečnost je platná zvláště, když data jsou dána do konvoluce s hrotem s relativně velkým vrcholem poloměru ve srovnání s objekty vytvářejícími povrchovou drsnost.

Type

D - Article in proceedings

CEP classification

BM - Solid-state physics and magnetism

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2005

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection

Nanoscale Calibration Standards and Methods: Dimensional and Related Measurements in the Micro-and Nanometer Range

ISBN

3-527-40502-X

ISSN

—

e-ISSN

—

Number of pages

11

Pages from-to

452-462

Publisher name

Wiley-VCH Verlag GmbH and Co. KGaA

Place of publication

Weinheim 2005

Event location

Weinheim 2005

Event date

Jan 1, 2005

Type of event by nationality

WRD - Celosvětová akce

UT code for WoS article

—