Influence of shadowing on ellipsometric quantities of randomly rough surfaces and thin films

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216224%3A14310%2F08%3A00026336" target="_blank" >RIV/00216224:14310/08:00026336 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

angličtina

Original language name

Influence of shadowing on ellipsometric quantities of randomly rough surfaces and thin films

Original language description

The formulae enabling us to calculate the values of the ellipsometric parameters of randomly rough surfaces and very thin films with randomly rough boundaries with respect to the influence of the shadowing between the irregularities of roughness are presented. These formulae are derived within the scalar diffraction theory of light. The first formula allows the calculation of the ellipsometric parameters using a numerical method, while the second formula is the approximative one but it expresses the ellipsometric parameters in a closed form. The numerical analysis of both formulae is performed for several examples of randomly rough surfaces and thin films. Moreover, the comparison of the results achieved using both formulae respecting the shadowing andan earlier formula not including this effect is performed. The experimental data of two samples of the randomly rough silicon surfaces covered with very thin surface layers are interpreted using all the formulae mentioned. Using this exp

Czech name

Vliv stínění na elipsometrické veličiny náhodně drsných povrchů a tenkých vrstev

Czech description

Jsou presentovány vzorce umozňující nám vypočíst hodnoty elipsometrických parametrů náhodně drsných povrchů a tenkých vrstev s náhodně drsnými rozhraními s ohledem na vliv stínění mezi nerovnostmi drsnosti. Tyto vzorce jsou odvozeny v rámci skalární difrakční teorie světla. První vzorec umožňje výpočet elipsometrických parametrů pomocí numerických metod, zatímco druhá formule je přibližná, ale vyjadřuje elipsometrické parametry v uzavřeném tvaru. Oba vzorce jsou numericky zkoumány na několika příkladechdrsných povrchů a tenkých vrstev. Navíc jsou porovnány výsledky dosažené s použitím obou vzorců beroucích v úvahu stínění s výsledky dřívějších vzorců, které tento jev v úvahu neberou. Pomocí všech vzorců jsou vyhodnocena experimentální data dvou vzorkůnáhodně drsného povrchu křemíku pokrytého velmi tenkou povrchovou vrstvou. Touto experimentální studií je potvrzena správnost obou vzorců započítávajících stínění.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BH - Optics, masers and lasers

OECD FORD branch

—

Project

—

Continuities

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2008

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Journal of modern optics

ISSN

0950-0340

e-ISSN

—

Volume of the periodical

55

Issue of the periodical within the volume

7

Country of publishing house

GB - UNITED KINGDOM

Number of pages

23

Pages from-to

—

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—