Surface observation and measurement by means of digital holographic microscope with arbitrary degree of coherence
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F08%3APU78130" target="_blank" >RIV/00216305:26210/08:PU78130 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
angličtina
Original language name
Surface observation and measurement by means of digital holographic microscope with arbitrary degree of coherence
Original language description
The application of digital holographic microscope (DHM) imaging and inspection of fine surface structures, dimensions of which are in the range from units of nanometers up to units of micrometers in optical axis direction, is described in this paper. Accurate results of surface structures measurement, in the case the surface profile height is of three orders range, is achieved by simultaneous processing of optically sectioned image intensity and image phase. Surface profile height is roughly specified by the image intensity and the precise height information is acquired from the image phase. Full width at half maximum of the axial intensity response is adjusted properly for particular specimen by the modification of the spectral function of illumination and by resizing of the incoherent illumination source. It means the intervention into spatial and temporal coherence of the illumination. The content of this paper is the description of imaging characteristics of the DHM for individual
Czech name
Aplikace digitální holografické mikroskopie s proměnný stupněm koherence osvětlení v profilometrii povrchů.
Czech description
Reflexní digitální holografický mikroskop (RDHM) využívá principu mimosové nekoherentní obrazové holografie s difrakční mřížkou na místě děliče svazku. Z principu této techniky vyplývá, že z výstupního signálu lze rekonstruovat obrazovou intenzitu společně s obrazovou fází, a to prakticky v reálném čase [1]. Konstrukční provedení mikroskopu umožňuje použití osvětlení s širokým rozsahem časové a prostorové koherence. Použití plošného, prostorově nekoherentního zdroj vede k silné závislost rekonstruovanéintenzity na poloze pozorovaného povrchu vzhledem k předmětové rovině objektivu. Vzniká optický řez, podobně jako v konfokální mikroskopii [2]. Tuto závislost charakterizuje tzv. osová intenzitní odezva. Je-li zdroj navíc spektrálně širokopásmový, tedy také časově nekoherentní, optický řez je podstatně zúžen, poklesne hodnota pološířky osové intenzitní odezvy [3]. Použití kvazibodového spektrálně úzkopásmov
Classification
Type
D - Article in proceedings
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/LC06040" target="_blank" >LC06040: Structures for Nanophotonics and Nanoelectronics</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2008
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Article name in the collection
16th Polish-Slovak-Czech Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics (Proceedings Volume)
ISBN
978-0-8194-7383-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
8
Pages from-to
—
Publisher name
Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Place of publication
Bellingham WA 98225-6705 USA
Event location
Polanica Zdrój, Poland
Event date
Sep 8, 2008
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—