Educational Model of Scanning Probe Microscope
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26210%2F15%3APR28439" target="_blank" >RIV/00216305:26210/15:PR28439 - isvavai.cz</a>
Result on the web
<a href="http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2015-05/" target="_blank" >http://surfaces.fme.vutbr.cz/laboratories/developed-instruments/2015-05/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Výukový model mikroskopu SPM
Original language description
Jedná se o zvětšený funkční model mikroskopu s rastrující sondou. Model je určený pro výukové a prezentační účely. Celý vývoj hardwaru, elektroniky i softwaru výukového modelu byl proveden na ÚFI. Model mikroskopu je uzpůsoben pro měření analogie AFM, ale díky vlastnímu vývoji zařízení lze implementovat analogie dalších technik SPM. Ve stávajícím stavu model dovoluje demonstraci měření v kontaktním módu i v tzv. tapping módu, a to jak v režimu konstantní výšky, tak v režimu konstantní interakce mezi vzorkem a hrotem. Model mikroskopu je vestavěn do přenosného kufříku což dovoluje snadný transport zařízení na místo prezentace. Řízení procesu měření a zobrazování měřených dat je prováděno pomocí jednodeskového počítače vestavěného v zařízení, takže pro demonstrační měření je navíc potřebné pouze externí zobrazovací zařízení.
Czech name
Výukový model mikroskopu SPM
Czech description
Jedná se o zvětšený funkční model mikroskopu s rastrující sondou. Model je určený pro výukové a prezentační účely. Celý vývoj hardwaru, elektroniky i softwaru výukového modelu byl proveden na ÚFI. Model mikroskopu je uzpůsoben pro měření analogie AFM, ale díky vlastnímu vývoji zařízení lze implementovat analogie dalších technik SPM. Ve stávajícím stavu model dovoluje demonstraci měření v kontaktním módu i v tzv. tapping módu, a to jak v režimu konstantní výšky, tak v režimu konstantní interakce mezi vzorkem a hrotem. Model mikroskopu je vestavěn do přenosného kufříku což dovoluje snadný transport zařízení na místo prezentace. Řízení procesu měření a zobrazování měřených dat je prováděno pomocí jednodeskového počítače vestavěného v zařízení, takže pro demonstrační měření je navíc potřebné pouze externí zobrazovací zařízení.
Classification
Type
G<sub>funk</sub> - Functional sample
CEP classification
BM - Solid-state physics and magnetism
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
—
Continuities
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Others
Publication year
2015
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Internal product ID
Makroskop
Numerical identification
—
Technical parameters
Model mikroskopu je vhodný pro prezentaci či výuku základních principů mikroskopie SPM. Model obsahuje dvouosý stolek pro rastrování se vzorkem a vertikální posuv pro řízení výšky hrotu nad vzorkem. Model i s řídicím jednodeskovým počítačem je vestavěnýdo příručního kufru což umožňuje snadný transport. Model umožňuje provést demonstrační měření v kontaktním módu i tzv. tapping módu, obojí v režimu konstantní výšky i konstantní interakce.
Economical parameters
Zařízení bylo navrženo a vyrobeno na ÚFI pomocí běžně dostupných strojních součástí a materiálu. Vyvinuty a vyrobeny byly veškeré elektronické řídicí obvody. Nakoupen byl jednodeskový počítač Rasberry Pi. Celková pořizovací cena použitých komponent je odhadována na 13 000 Kč.
Application category by cost
—
Owner IČO
00216305
Owner name
Fakulta strojního inženýrství
Owner country
CZ - CZECH REPUBLIC
Usage type
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence
Licence fee requirement
A - Poskytovatel licence na výsledek požaduje licenční poplatek
Web page
—