Detection of Backscattered Electrons in Environmental Scaning Electron Microscope

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F03%3APU39624" target="_blank" >RIV/00216305:26220/03:PU39624 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Detection of Backscattered Electrons in Environmental Scaning Electron Microscope
Original language description
Impact of primary electrons causes generation of signals in the environmental scanning electron microscope (ESEM). These signals can be subsequently detected. Secondary and the backscattered electrons are very often used to obtein information about the specimen. In ESEM secondary electrons are mostly detected by a scintillation detector.
Czech name
Detekce zpětně odražených elektronů v ESEM.
Czech description
Dopad primárních elektronů způsobuje generaci signálů v environmentálním rastrovacím elektronovém mikroskopu (ESEM). Tyto signály mohou být následně detekovány. Sekundární a zpětně odražené elektrony jsou nejčastěji používány k získání informací o zkoumaném objektu. Zpětně odražené elektrony jsou v ESEM nejčastěji detekovány scintilačním detektorem.

Project
<a href="/en/project/GA102%2F01%2F1271" target="_blank" >GA102/01/1271: Study of detection methods and systems in extreme conditions of environmental scanning electron microscopy</a><br>
Continuities
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2003
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Article name in the collection
Proceedings 6th Multinational Congress on Microscopy
ISBN
—
ISSN
—
e-ISSN
—
Number of pages
2
Pages from-to
489-490
Publisher name
—
Place of publication
Pula, Croatia
Event location
Pula
Event date
Jun 1, 2003
Type of event by nationality
WRD - Celosvětová akce
UT code for WoS article
—

Similar results(10)