Local fiber probes for Scanning near-field optical microscope

Result code in IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU42756" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU42756 - isvavai.cz</a>

Result on the web

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Result language

čeština

Original language name

Lokální optické vláknové sondy pro mikroskop pracující v blízkém poli

Original language description

Mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) se stala v posledním desetiletí nedílnou součástí moderních metod lokální mikroskopie, protože STM či AFM mikroskopy, ač mají vyšší rozlišovací schopnost, neumožňují vizualizaci některých optických a elektrickýchvlastnosti vzorků se superrozlišením. Klíčovým místem mikroskopu je vlastní optická sonda, neboť na jejích rozměrech a tvaru závisí rozlišovací schopnost zařízení. Sondy z jednovidového a mnohavidového vlákna byly vyrobeny modifikací dvou základních metood, tj. ohřevem a tažením vlákna či jeho leptáním v různých prostředích a jejich následným pokovením, či ponecháním bez kovové vrstvy. Takto vyrobené sondy umožní dosažení subvlnového rozlišení.

Czech name

Lokální optické vláknové sondy pro mikroskop pracující v blízkém poli

Czech description

Mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) se stala v posledním desetiletí nedílnou součástí moderních metod lokální mikroskopie, protože STM či AFM mikroskopy, ač mají vyšší rozlišovací schopnost, neumožňují vizualizaci některých optických a elektrickýchvlastnosti vzorků se superrozlišením. Klíčovým místem mikroskopu je vlastní optická sonda, neboť na jejích rozměrech a tvaru závisí rozlišovací schopnost zařízení. Sondy z jednovidového a mnohavidového vlákna byly vyrobeny modifikací dvou základních metood, tj. ohřevem a tažením vlákna či jeho leptáním v různých prostředích a jejich následným pokovením, či ponecháním bez kovové vrstvy. Takto vyrobené sondy umožní dosažení subvlnového rozlišení.

Type

J_x - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)

CEP classification

BH - Optics, masers and lasers

OECD FORD branch

—

Project

<a href="/en/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Semiconductors - local optical and electrical properties</a><br>

Continuities

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year

2004

Confidentiality

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Name of the periodical

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6411

e-ISSN

—

Volume of the periodical

49

Issue of the periodical within the volume

6

Country of publishing house

CZ - CZECH REPUBLIC

Number of pages

4

Pages from-to

163-166

UT code for WoS article

—

EID of the result in the Scopus database

—