Noise and Non-Linearity as Reliability Idicators of Electronic Devices

Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU43792" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU43792 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Result language
angličtina
Original language name
Noise and Non-Linearity as Reliability Idicators of Electronic Devices
Original language description
An application of noise and non-linearity measurements in analysis, diagnostics and prediction of reliability of electronic devices is discussed. The sensitivity of noise and non-linearity to the device defects and other irregularities is typical featureof these methods. The principles of noise and non-linearity measuring set-up are shown. Conceptions of 1/f noise, burst or RTS noise, thermal noise and third harmonic voltage are described and theirs explanation is done. Possible reliability indicatorsfor conducting film resistors, MOSFETs and quantum dots are presented.
Czech name
Šum a nelinearita jako ukazatel spolehlivosti u elektronických zařízení
Czech description
V článku je diskutováno použití měření šumu a nelinearit v analýze, diagnostice a předpovídání spolehlivosti elektronických součástek. Pro tyto metody je typická citlivost šumu a melinearit na defekty a jiné nepravidelnosti v součástkách. Článek se takévěnuje meřícímu zařízení šumu i nelinearit.

Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
JA - Electronics and optoelectronics
OECD FORD branch
—

Project
<a href="/en/project/ME%20605" target="_blank" >ME 605: Noise of HEMT for global communication</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Similar results(10)