The influence of the probe tip-sample distance on the resolution of Scanning near-field optical microscope
The result's identifiers
Result code in IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F00216305%3A26220%2F04%3APU43897" target="_blank" >RIV/00216305:26220/04:PU43897 - isvavai.cz</a>
Result on the web
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternative languages
Result language
čeština
Original language name
Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli
Original language description
Základním problémem všech sondových mikroskopů je jejich příčná rozlišovací schopnost závisející zejména na rozměrech hrotu sondy a na její vzdálenosti od vzorku. Zkoumaný aperturní rastrovací mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) používá pokovenou vláknovou sondu s aperturou 60 nm. Vertikální vzdálenost sondy od předmětu je řízena pomocí střižných sil a nastavuje se pomocí programovatelného předpětí ve smyčce zpětné vazby sondy. Topografické obrazy mřížky získané v různých vzdálenostech jsou porovnáány s AFM obrazem. Experimentální výsledky ukazují značnou závislost obrazů v blízkém poli na vzdálenosti sondy od vzorku. Zobrazovací charakteristiky SNOM jsou porovnány se spektrem prostorových frekvencí obrazu.
Czech name
Vliv vzdálenosti hrot sondy-vzorek na rozlišovací schopnost rastrovacího optického mikroskopu v blízkém poli
Czech description
Základním problémem všech sondových mikroskopů je jejich příčná rozlišovací schopnost závisející zejména na rozměrech hrotu sondy a na její vzdálenosti od vzorku. Zkoumaný aperturní rastrovací mikroskop v optickém blízkém poli (SNOM) používá pokovenou vláknovou sondu s aperturou 60 nm. Vertikální vzdálenost sondy od předmětu je řízena pomocí střižných sil a nastavuje se pomocí programovatelného předpětí ve smyčce zpětné vazby sondy. Topografické obrazy mřížky získané v různých vzdálenostech jsou porovnáány s AFM obrazem. Experimentální výsledky ukazují značnou závislost obrazů v blízkém poli na vzdálenosti sondy od vzorku. Zobrazovací charakteristiky SNOM jsou porovnány se spektrem prostorových frekvencí obrazu.
Classification
Type
J<sub>x</sub> - Unclassified - Peer-reviewed scientific article (Jimp, Jsc and Jost)
CEP classification
BH - Optics, masers and lasers
OECD FORD branch
—
Result continuities
Project
<a href="/en/project/ME%20544" target="_blank" >ME 544: Semiconductors - local optical and electrical properties</a><br>
Continuities
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Others
Publication year
2004
Confidentiality
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Data specific for result type
Name of the periodical
Jemná mechanika a optika
ISSN
0447-6411
e-ISSN
—
Volume of the periodical
49
Issue of the periodical within the volume
9
Country of publishing house
CZ - CZECH REPUBLIC
Number of pages
3
Pages from-to
242-244
UT code for WoS article
—
EID of the result in the Scopus database
—